आईसी निरीक्षण

आईसी दोष निरीक्षण प्रणाली

सार
गैर-एक बार में बड़ी मात्रा में चिप्स का निरीक्षण करने के लिए संपर्क छवि कैप्चरिंग का उपयोग किया जा सकता है.

परिचय
IC चिप्स आकार में छोटे होते हैं,संरचना में नाजुक,और उत्पादन में बड़ा;इसलिए,गुणवत्ता निरीक्षण में सहायता के लिए सटीक और कुशल उपकरणों की आवश्यकता है.आईसी दिखावे के दोषों के लिए निरीक्षण समाधान एक गैर का उपयोग कर रहा है-संपर्क वस्तु स्कैनर,विशेष रूप से Microtek . द्वारा डिज़ाइन किया गया,आईसी चिप्स की छवियों को कैप्चर करने के लिए,आईसी चिप्स के नुकसान के कारण होने वाली गलत धारणाओं से प्रभावी ढंग से बचना.ऑब्जेक्ट स्कैनर बड़ा कैप्चर करने में सक्षम है-छवियों के बड़े पैमाने पर आकार और इस प्रकार यह एक समय में बड़ी मात्रा में चिप्स को तेजी से संभाल सकता है,निरीक्षण समय को प्रभावी ढंग से छोटा करना.
MiQC के साथ मिलकर उपयोग करना-I C,एक दोष निरीक्षण और प्रबंधन प्रणाली,एक सुनहरा नमूना एक ऑपरेटर द्वारा आसानी से चुना जा सकता है.प्लस,उपयोग में उन्नत तकनीक,दोषपूर्ण क्षेत्र पाया जा सकता है और ठीक से चिह्नित किया जा सकता है.प्रबंधन प्रणाली में दोषों वाली छवियों को अपलोड करने के बाद,उपयोगकर्ता फ़ाइल नामों का उपयोग करके डेटा के टन से वह खोज सकते हैं जो वे ढूंढ रहे हैं,अपलोड करने की तिथियां या दोष सूचना,प्रबंधन को अधिक प्रभावी और कुशल बढ़ाना.

विशेषताएं

• गैर-छवियों की संपर्क कैप्चरिंग स्कैन की गई वस्तुओं की पूर्णता सुनिश्चित करती है
• एक बड़े पर कब्जा-स्केल छवि चिप्स की बड़ी मात्रा के लिए कार्य कुशलता को बढ़ाती है
• विभिन्न आईसी चिप्स की छवि स्कैनिंग का समर्थन करता है
• मैन्युअल रूप से एक सुनहरा नमूना चुनने में सक्षम;फिर,सिस्टम सभी चिप्स के लिए स्थिति चिह्नित करेगा और स्वचालित रूप से दोष तुलना शुरू करेगा
• विषम संख्याओं का उपयोग करके स्मार्ट खोज करने में सक्षम,निरीक्षण आइटम,या बिंदु पढ़ना
• दोष श्रेणियों को स्थापित करने और दोषपूर्ण वस्तुओं या अपलोडिंग तिथियों का उपयोग करके एक विशिष्ट खोज करने में सक्षम
• केवल-पीसी और वेब पर उपयोग करने के लिए डिज़ाइन किया गया निरीक्षण सॉफ़्टवेयर स्थापित किया जा सकता है

एओआई ब्रोशर

विशेष विवरण
स्कैनिंग क्षेत्र：52 x 38 सेमी
कार्य दूरी：7 सेमी
स्कैनिंग संकल्प：20&म्यू;एम
छवि सेंसर प्रकार：रंग रैखिक सीसीडी