IC檢測系統
全友電腦股份有限公司是製造商,供應商和出口商,工廠坐落於台灣。我們的研發團隊對於IC檢測系統有極為豐富的專業知識,並且不斷的在產品研發上積極的開發,現今已發展出許多不同功能的配方。我們歡迎在此方面有特殊需求的客戶與我們聯絡,或可直接來廠參觀討論。
IC檢測系統
型號 - 10-3,IC Flaw Inspection System
IC外觀瑕疵檢測系統
摘要
非接觸影像擷取,一次檢測大量晶片。
簡介
IC晶片尺寸小,構造精細,生產數量大,需要精準、有效率的工具協助品檢。IC外觀瑕疵檢測方案主要是以全友電腦特別開發的一款實物掃描儀,以非接觸式掃描的方式擷取影像,能避免因破壞IC晶片造成誤判。這款取像儀可一次擷取大尺寸幅面的影像,因此短時間內即可一次處理數量龐大的晶片,大幅縮短檢測時間。
可搭配MiQC-IC 外觀瑕疵檢測管理系統,藉由操作人員選定 Golden sample 的方式,輔以高效能的檢測技術,精確標示出瑕疵區域。瑕疵影像上傳至管理系統後,使用者可透過檔名、上傳日期及瑕疵資訊快速尋找,在極短的時間內、從大量資料中找出符合條件之物件,讓管理達到事半功倍的效果。
產品特色
產品規格
掃描範圍: 52 x 38 cm
工作距離: 7 cm
掃描解析度: 20 μm
影像感應元件: Color linear CCD
摘要
非接觸影像擷取,一次檢測大量晶片。
簡介
IC晶片尺寸小,構造精細,生產數量大,需要精準、有效率的工具協助品檢。IC外觀瑕疵檢測方案主要是以全友電腦特別開發的一款實物掃描儀,以非接觸式掃描的方式擷取影像,能避免因破壞IC晶片造成誤判。這款取像儀可一次擷取大尺寸幅面的影像,因此短時間內即可一次處理數量龐大的晶片,大幅縮短檢測時間。
可搭配MiQC-IC 外觀瑕疵檢測管理系統,藉由操作人員選定 Golden sample 的方式,輔以高效能的檢測技術,精確標示出瑕疵區域。瑕疵影像上傳至管理系統後,使用者可透過檔名、上傳日期及瑕疵資訊快速尋找,在極短的時間內、從大量資料中找出符合條件之物件,讓管理達到事半功倍的效果。
產品特色
- 非接觸式取像,取像時不會接觸待掃物或造成損壞
- 取像幅面大,一次可取得大量IC晶片影像。
- 支援各類IC晶片的影像掃描
- 可自訂選取 Golden sample,由系統自動框選出所有晶片位置並進行瑕疵比對
- 可透過單號、檢測項目、讀點等項目進行智慧查詢
- 自訂瑕疵分類,可依瑕疵項目及上傳日期等資訊查詢
- 專用檢測軟體可設定PC端及網頁端使用
產品規格
掃描範圍: 52 x 38 cm
工作距離: 7 cm
掃描解析度: 20 μm
影像感應元件: Color linear CCD
我們努力為客戶提供高品質的
IC檢測系統
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要查找和購買最好的IC檢測系統,您需要了解IC檢測系統的最高品質,這些製造商,供應商,批發商,零售商,來自Taiwan
10-1,2D Barcode Inspection Solution
none
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USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/barcode-inspection-system.html
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10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
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10-4,FAI-630
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10-5,LT-050
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2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/defect-detection-system.html
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10-6,WaferEye 810
none
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USD
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https://www.bestimagescanner.com/surface-defect-inspection.html
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