दोष निरीक्षण प्रणाली

Microtek International, Inc. अग्रणी है Taiwan निर्माता, सप्लायर और निर्यातक की दोष निरीक्षण प्रणाली और अनुकूलतम प्रदर्शन के बारे में अपने ग्राहकों को आश्वस्त. हमारे उत्पादों को उच्च ग्रेड कच्चे माल का उपयोग कर निर्मित कर रहे हैं. ये व्यापक रूप से विभिन्न उद्योग अनुप्रयोगों में उपयोग किया जाता है. यह अंतरराष्ट्रीय मानदंडों और मानकों के अनुसार निर्मित है और आसानी से ग्राहक की आवश्यकता के अनुसार व्यक्तिगत कर सकते हैं. हम सबसे अधिक प्रतिस्पर्धी कीमतों पर उन्हें प्रदान करते हैं.
हम उच्च स्तर प्रदान

दोष निरीक्षण प्रणाली

और पूरे मन से सेवा. हम भरोसेमंद उत्पादों के साथ प्रदान, भरोसा विनिर्माण क्षमता और अमीर और शक्तिशाली सामरिक knowledge.We अनुभवी इंजीनियरों और हमेशा आप तेजी से वितरण के साथ उच्च गुणवत्ता वाले उत्पादों को आश्वस्त किया है.
  • दोष निरीक्षण प्रणाली - 10-4,FAI-630
दोष निरीक्षण प्रणाली
आदर्श - 10-4,FAI-630
स्कैनिंग और निरीक्षण मॉड्यूल

परिचय
फाई-630 एक गैर है-संपर्क रंग रैखिक छवि कैप्चरिंग मॉड्यूल,जो बड़े पैमाने पर कब्जा करने के लिए विभिन्न कन्वेयर के साथ मिलकर उपयोग करने के लिए उपयुक्त है-छवियों को सटीक रूप से स्केल करें.संकल्प के साथ 20 . तक है&म्यू;एम,स्कैनिंग क्षेत्र 12 x 24 इंच तक है और कार्य दूरी 2 . तक है.5 सेमी,फाई-630 एफएआई या पहचान के लिए सबसे अच्छा काम करता है,मिलाप चिपकाने से पहले PWBA की छवियों की तुलना और निरीक्षण करना.एफएआई की कार्य दूरी-630 ग्राहकों के अनुसार अनुकूलित किया जा सकता है’मांगों.

विशेषताएं
  • गैर-संपर्क छवि कैप्चरिंग तकनीक स्कैन किए गए लक्ष्यों की पूर्णता सुनिश्चित करती है
  • स्कैन किए गए लक्ष्यों की छवियों को कैप्चर करने के लिए रोशनी के विभिन्न कोणों के साथ एक साथ उपयोग करना विभिन्न सामग्रियों की विशेषताओं को स्पष्ट रूप से प्रस्तुत करता है
एओआई ब्रोशर

विशेष विवरण
स्कैनिंग क्षेत्र:12”एक्स 24”
कार्य दूरी:2.5 सेमी
स्कैनिंग संकल्प:20&म्यू;एम
छवि सेंसर प्रकार:रंग रैखिक सीसीडी
Microtek International, Inc.
10-4,FAI-630
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उत्पाद सूची
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सबसे अच्छा दोष निरीक्षण प्रणाली खोजने और खरीदने के लिए, आपको Taiwan में किसी कारखाने से दोष निरीक्षण प्रणाली निर्माता, आपूर्तिकर्ता, थोक व्यापारी, वितरक की उच्चतम गुणवत्ता के बारे में जानना होगा।
10-1,2D Barcode Inspection Solution
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10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
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10-3,IC Flaw Inspection System
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