IC-inspectie

IC-foutinspectiesysteem

Abstract
Niet-Het vastleggen van contactbeelden kan worden gebruikt om grote hoeveelheden chips tegelijk te inspecteren.

Invoering
IC-chips zijn klein van formaat,delicaat van structuur,en groot in productie;daarom,er is behoefte aan nauwkeurige en efficiënte hulpmiddelen om te helpen bij kwaliteitsinspectie.De inspectieoplossing voor defecten van IC-uiterlijk is met behulp van een niet--contact object scanner,exclusief ontworpen door Microtek,om beelden van IC-chips vast te leggen,effectief vermijden van verkeerde inschattingen veroorzaakt door beschadiging van IC-chips;.De objectscanner is in staat om grote-schaalgroottes van afbeeldingen en kan dus grote hoeveelheden chips in één keer snel verwerken,verkorting van de inspectietijd effectief;.
Gebruik samen met de MiQC-IC,een defect inspectie- en beheersysteem,een gouden monster kan eenvoudig worden geselecteerd door een operator.Plus,geavanceerde technologie in gebruik,het defecte gebied kan precies worden gevonden en gemarkeerd.Nadat afbeeldingen met defecten zijn geüpload naar het beheersysteem,gebruikers kunnen snel vinden wat ze zoeken in tonen van gegevens door bestandsnamen te gebruiken,data uploaden of informatie over defecten,het management effectiever en efficiënter maken.

Functies

• Niet-contact vastleggen van afbeeldingen zorgt voor de volledigheid van gescande objecten
• Vastleggen van een grote-schaalafbeelding verbetert de werkefficiëntie voor grote hoeveelheden chips
• Ondersteunt het scannen van afbeeldingen van verschillende IC-chips
• In staat om handmatig een gouden monster te selecteren;dan,het systeem markeert de posities voor alle chips en start automatisch defectvergelijkingen
• In staat om slim zoeken uit te voeren met oneven nummers,items inspecteren,of punt lezen
• In staat om defectcategorieën in te stellen en een specifieke zoekopdracht uit te voeren door defecte items te gebruiken of datums te uploaden
• Uitsluitend-ontworpen inspectiesoftware kan worden ingesteld voor gebruik op pc en internet

AOI-brochure

Specificaties:
Scangebied：52 x 38 cm
Werkafstand：7 cm
Scanresolutie：20μm
Type beeldsensor：Kleur lineaire CCD