IC Inspektion

Als professioneller Hersteller, Lieferant und Exporteur mit einer Fabrik in TaiwanUnsere wichtigsten Produkte sind alle Arten von IC Inspektion Produkte. Wir bestehen darauf, immer noch auf der Beibehaltung der Förderung und Änderung der Fähigkeiten, um mehr besser ausgezeichnete Produkte und bieten die hübsche Service für unsere Kunden. wenden Sie sich bitte kontaktieren Sie uns.
Mit moderner Wissenschaft und Technologie, entwickelt und produziert verschiedene Arten von unserer Firma

IC Inspektion

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  • IC Inspektion - 10-3,IC Flaw Inspection System
IC Inspektion - 10-3,IC Flaw Inspection System IC Inspektion - 10-3,IC Flaw Inspection System
IC Inspektion
Modell - 10-3,IC Flaw Inspection System
IC-Fehlerprüfsystem

Abstrakt
Nicht-Die Kontaktbilderfassung kann zur gleichzeitigen Inspektion großer Mengen von Chips verwendet werden.

Einführung
IC-Chips sind klein,zart in der Struktur,und groß in der Produktion;deshalb,es besteht Bedarf an genauen und effizienten Werkzeugen zur Unterstützung der Qualitätsprüfung.Die Inspektionslösung für Defekte von IC-Erscheinungsbildern besteht in der Verwendung eines nicht-Objektscanner kontaktieren,exklusiv entworfen von Microtek,um Bilder von IC-Chips aufzunehmen,Fehleinschätzungen durch Beschädigung von IC-Chips werden effektiv vermieden.Der Objektscanner ist in der Lage, große-skalieren Sie die Größe von Bildern und können daher große Mengen von Chips schnell gleichzeitig verarbeiten,Inspektionszeit effektiv verkürzen.
Verwendung zusammen mit dem MiQC-IC,ein Mängelinspektions- und -managementsystem,eine goldene Probe kann leicht von einem Bediener ausgewählt werden.Plus,fortschrittliche Technologie im Einsatz,die defekte Stelle kann gefunden und genau markiert werden.Nachdem Bilder mit Mängeln in das Managementsystem hochgeladen wurden,Benutzer können mithilfe von Dateinamen schnell das Gesuchte aus den Datentönen finden,Hochladen von Daten oder Fehlerinformationen,Verbesserung des Managements effektiver und effizienter.

Merkmale
  • Nicht-Kontaktaufnahme von Bildern sichert die Vollständigkeit der gescannten Objekte
  • Aufnahme eines großen-Scale-Image verbessert die Arbeitseffizienz bei großen Chipmengen
  • Unterstützt das Scannen von Bildern verschiedener IC-Chips
  • Kann eine goldene Probe manuell auswählen;dann,das System markiert Positionen für alle Chips und startet automatisch Fehlervergleiche
  • Kann Smart Search mit ungeraden Zahlen durchführen,inspizieren von Artikeln,oder Punktlesen
  • Möglichkeit, Fehlerkategorien einzurichten und eine spezifische Suche durchzuführen, indem Fehlerartikel verwendet oder Daten hochgeladen werden
  • Ausschließlich-entwickelte Inspektionssoftware kann für die Verwendung auf PC und Web eingerichtet werden
AOI-Broschüre

Spezifikationen
Scanbereich:52 x 38 cm
Arbeitsentfernung:7 cm²
Scanauflösung:20μm
Bildsensortyp:Farblineares CCD
Microtek International, Inc.
10-3,IC Flaw Inspection System
none
999999999 http://schema.org/InStock USD 2020-12-31
90out of 100based on 100user ratings
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Produkte Liste
Microtek International, Inc.
Um die besten IC Inspektion zu finden und einzukaufen, müssen Sie die höchste Qualität von IC Inspektion Hersteller, Lieferant, Großhändler und Händler aus einer Fabrik in Taiwan
10-1,2D Barcode Inspection Solution
none
999999999 http://schema.org/InStock USD 2020-12-31
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Microtek International, Inc.
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10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
none
999999999 http://schema.org/InStock USD 2020-12-31
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Microtek International, Inc.
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10-4,FAI-630
none
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