वस्त्र निरीक्षण प्रणाली

Microtek International, Inc. जैसे उत्पादों की गुणवत्ता, एक निर्माता और सप्लायर है वस्त्र निरीक्षण प्रणाली और इतने पर वर्षों से अधिक के लिए, हम मजबूत गठजोड़ बनाने के लिए अपने ग्राहकों के साथ साझेदारी में काम किया है. अभिनव डिजाइन के लिए हमारी प्रतिष्ठा, विश्वसनीयता निर्णय निर्माताओं की सबसे महत्वपूर्ण प्रभाव जारी है. भविष्य में, हम तुम्हारे लायक सर्वश्रेष्ठ उत्पादों, सेवाओं और समर्थन के साथ ग्राहकों को उपलब्ध कराने के लिए समर्पित कर रहे हैं. आप यह आवश्यकता है, OEM या ODM स्वागत है जब भी!
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वस्त्र निरीक्षण प्रणाली

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  • वस्त्र निरीक्षण प्रणाली - 10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
वस्त्र निरीक्षण प्रणाली
आदर्श - 10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
कपड़ा कपड़ा सतह दोष निरीक्षण प्रणाली

सार
एक अनुकूलित उत्पादन का मामला जिसे एओआई अपनाया जाता है और मानव आंखों को बदल दिया जाता है.

परिचय
चूंकि उत्पादन तकनीक और गति दिन-प्रतिदिन तेजी से संशोधित होती है,मजदूरों द्वारा निरीक्षण अब कठिन मांगों को पूरा नहीं कर सकता.जब एओआई को अपनाया गया और मानव आंखों को बदल दिया गया,उपवास पर उत्पादों के छोटे दोष-चलती उत्पादन लाइन आसानी से और प्रभावी ढंग से स्थित हो सकती है.
माइक्रोटेक मूल्यवान ग्राहकों को बेहतर अनुकूलित तकनीक और सेवाएं प्रदान करने में सक्षम है.गैर के प्रकटन दोषों के लिए समाधान का निरीक्षण-बुना सामग्री,एक महान उदाहरण के रूप में उपयोग किया जाता है,स्वचालित उपकरणों का एक सेट है जो छवि को तेजी से कैप्चर कर सकता है,उत्पाद दिखावे की पहचान करें और दोष प्रकारों को ठीक से पहचानें.उपयोगकर्ता दोष आकारों का उपयोग करके निरीक्षण मानकों को स्थापित कर सकते हैं.भी,जब निरीक्षण प्रक्रिया चल रही हो,वे चिन्हित कर सकते हैं कि दोष कहाँ स्थित हैं और फिर दोषपूर्ण उत्पादों से कुशलतापूर्वक छुटकारा पा सकते हैं.इसके अलावा,दोष प्रकारों का निर्धारण और वर्गीकरण करके और बाद में बड़े डेटा के विश्लेषण के साथ संयोजन करके,उपयोगकर्ता उत्पादन प्रक्रिया में सुधार कर सकते हैं और उत्पादन क्षमता और प्रभावशीलता बढ़ा सकते हैं.
अधिक सुविधाओं के लिए,माइक्रोटेक के लिए विशिष्टताओं या अनुकूलित मांगों’एस उत्पाद,कृपया हमसे संपर्क करने में संकोच न करें!

विशेषताएं
  • निरीक्षण विधि:उच्च . के साथ लाइन कैमरा-संकल्प छवियों को तुरंत कैप्चर और विश्लेषण कर सकते हैं
  • वस्तुओं का निरीक्षण:दाग,दोष,झुंड,छेद और इतने पर
  • प्रेसिजन का निरीक्षण:0.2-0.4 मिमी
  • क्षेत्रों का निरीक्षण:70-110 सेमी
  • निरीक्षण गति:100 मीटर/मिनट
  • प्रकाश स्रोत का निरीक्षण:उच्च-ल्यूमिनेन्स एलईडी
  • सॉफ्टवेयर का निरीक्षण:स्वयं-अनुकूलित कार्यों के साथ विकसित MiiFOI
एओआई ब्रोशर
Microtek International, Inc.
10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
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उत्पाद सूची
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10-1,2D Barcode Inspection Solution
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10-3,IC Flaw Inspection System
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10-4,FAI-630
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10-5,LT-050
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10-6,WaferEye 810
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