Ispezione IC

Microtek International, Inc. è il principale produttore, fornitore ed esportatore di Ispezione IC in Taiwan. Prodotto con materie prime di alta qualità dei nostri prodotti altamente affidabili e durevoli e si rivolge a una vasta gamma di esigenza diversa del cliente. Disegni e modelli che soddisfano le ultime tendenze prevalenti. I nostri prodotti sono anche noti per la loro eccellente qualità, servizio rapido e prezzo ragionevole.
Sul futuro di sviluppo strada, prenderemo buoni vantaggi della nostra ricerca, come al solito, e continuamente esplorare l'uso di nuovi materiali e tecnologie per migliorare la qualità e la funzione del nostro

Ispezione IC

, Così per soddisfare tutte le esigenze dei clienti.
  • Ispezione IC - 10-3,IC Flaw Inspection System
Ispezione IC - 10-3,IC Flaw Inspection System Ispezione IC - 10-3,IC Flaw Inspection System
Ispezione IC
Modello - 10-3,IC Flaw Inspection System
Sistema di ispezione dei difetti del circuito integrato

Astratto
Non-l'acquisizione dell'immagine di contatto può essere utilizzata per ispezionare grandi volumi di chip contemporaneamente.

introduzione
I chip IC sono di piccole dimensioni,delicato nella struttura,e di grande produzione;Perciò,sono necessari strumenti accurati ed efficienti per assistere nell'ispezione di qualità.La soluzione di ispezione per i difetti delle apparenze IC consiste nell'utilizzare un non-scanner di oggetti a contatto,progettato esclusivamente da Microtek,per catturare immagini di chip IC,evitando efficacemente giudizi errati causati dal danneggiamento dei chip IC.Lo scanner di oggetti è in grado di catturare grandi-ridimensiona le dimensioni delle immagini e quindi può gestire grandi volumi di chip velocemente contemporaneamente,ridurre efficacemente i tempi di ispezione.
Utilizzo insieme al MiQC-CIRCUITO INTEGRATO,un sistema di controllo e gestione dei difetti,un campione d'oro può essere facilmente selezionato da un operatore.Più,tecnologia avanzata in uso,l'area difettosa può essere trovata e contrassegnata con precisione.Dopo che le immagini con difetti sono state caricate nel sistema di gestione,gli utenti possono trovare rapidamente ciò che cercano dai toni di dati utilizzando i nomi dei file,caricamento delle date o informazioni sui difetti,migliorare la gestione più efficace ed efficiente.

Caratteristiche
  • Non-la cattura a contatto delle immagini garantisce la completezza degli oggetti scansionati
  • Cattura di un grande-l'immagine in scala migliora l'efficienza del lavoro per grandi volumi di chip
  • Supporta la scansione delle immagini di vari chip IC
  • In grado di selezionare manualmente un campione d'oro;poi,il sistema segnerà le posizioni per tutti i chip e avvierà automaticamente i confronti dei difetti
  • In grado di eseguire la ricerca intelligente utilizzando i numeri dispari,ispezionare gli oggetti,o punto lettura
  • In grado di impostare categorie di difetti ed eseguire una ricerca specifica utilizzando elementi difettosi o caricando date
  • Esclusivamente-il software di ispezione progettato può essere configurato per l'uso su PC e web
Brochure AOI

Specifiche
Area di scansione:52 x 38 cm
Distanza di lavoro:7 cm
Risoluzione di scansione:20μm
Tipo di sensore di immagine:CCD lineare a colori
Microtek International, Inc.
10-3,IC Flaw Inspection System
none
999999999 http://schema.org/InStock USD 2020-12-31
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Prodotti lista
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Per trovare e acquistare i migliori Ispezione IC, devi conoscere la massima qualità di Ispezione IC produttore, fornitore, grossista, distributore di una fabbrica in Taiwan
10-1,2D Barcode Inspection Solution
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10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
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10-4,FAI-630
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