D'inspection IC

Nous fabriquons, fournissons et exportons une gamme assez large de D'inspection IC avec une usine à Taiwan Ces produits sont également personnalisés selon les exigences spécifiques de nos myriades de clients et de clients du monde entier. Nous utilisons les matériaux, les procédés de fabrication les plus adaptés, dans la confection de ces produits fiables et esthétiques.
Ils sont très efficaces et offrent un excellent service dans le processus d'utilisation. Nous veillons à ce que ces

D'inspection IC

sont fabriqués par nos fournisseurs en utilisant les normes internationales de qualité à offrir des produits d'excellente qualité à nos clients.
  • D
D'inspection IC
Modèle - 10-3,IC Flaw Inspection System
Système d'inspection des défauts IC

Résumé
Non-la capture d'images par contact peut être utilisée pour inspecter de gros volumes de puces en une seule fois.

introduction
Les puces IC sont de petite taille,structure délicate,et grand en production;donc,il existe des besoins en outils précis et efficaces pour aider à l'inspection de la qualité.La solution d'inspection des défauts d'apparence des circuits intégrés consiste à utiliser un-scanner d'objets de contact,exclusivement conçu par Microtek,pour capturer des images de puces IC,éviter efficacement les erreurs de jugement causées par l'endommagement des puces IC.Le scanner d'objets est capable de capturer de grandes-mettre à l'échelle la taille des images et ainsi gérer rapidement de gros volumes de puces,raccourcir efficacement le temps d'inspection.
Utilisation avec le MiQC-CI,un système d'inspection et de gestion des défauts,un échantillon en or peut être facilement sélectionné par un opérateur.Plus,technologie de pointe en cours d'utilisation,la zone défectueuse peut être trouvée et marquée avec précision.Une fois les images présentant des défauts téléchargées dans le système de gestion,les utilisateurs peuvent trouver rapidement ce qu'ils recherchent à partir de tons de données en utilisant des noms de fichiers,télécharger des dates ou des informations sur les défauts,améliorer la gestion plus efficace et efficiente.

Caractéristiques
  • Non-la capture par contact des images garantit l'intégralité des objets numérisés
  • Capture d'un grand-L'image à l'échelle améliore l'efficacité du travail pour de grands volumes de puces
  • Prend en charge la numérisation d'images de diverses puces IC
  • Capable de sélectionner un échantillon doré manuellement;ensuite,le système marquera les positions de toutes les puces et lancera automatiquement les comparaisons de défauts
  • Capable d'effectuer une recherche intelligente en utilisant des nombres impairs,inspecter des articles,ou lecture ponctuelle
  • Capable de configurer des catégories de défauts et d'effectuer une recherche spécifique à l'aide d'éléments défectueux ou de dates de téléchargement
  • Exclusivement-le logiciel d'inspection conçu peut être configuré pour être utilisé sur PC et sur le Web
Brochure de l'AOI

Caractéristiques
Zone de numérisation:52x38cm
Distance de travail:7cm
Résolution de numérisation:20μm
Type de capteur d'image:CCD linéaire couleur
Microtek International, Inc.
10-3,IC Flaw Inspection System
none
999999999 http://schema.org/InStock USD 2020-12-31
90out of 100based on 100user ratings
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Produits Liste
Microtek International, Inc.
Pour trouver et acheter les meilleurs D'inspection IC, vous devez connaître la meilleure qualité de D'inspection IC fabricant, fournisseur, grossiste, distributeur d'une usine de Taiwan
10-1,2D Barcode Inspection Solution
none
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Microtek International, Inc.
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10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
none
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Microtek International, Inc.
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10-4,FAI-630
none
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Microtek International, Inc.
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10-5,LT-050
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Microtek International, Inc.
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10-6,WaferEye 810
none
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