Inspection des défauts de surface des plaquettes

Inspection optique automatique AOI

WaferEye810,conçu pour 8-plaquettes en pouces,est un système avancé dédié à la détection précise des défauts de surface sur les wafers,assurer une haute-contrôle de la qualité.Grâce à l'intégration de la découpe-systèmes optiques de pointe et techniques avancées de traitement d’image,ce système excelle dans la détection de défauts de surface aussi petits que 10 x 10µm en taille,y compris les rayures,casses,fissures,PAD anormaux,et plus.Un logiciel intelligent permet de réelles-affichage de l'image temporelle et analyse des défauts,documentant automatiquement les coordonnées des éclats de matrice anormaux ainsi que les détails des défauts.Cela empêche les puces défectueuses de passer au processus suivant.,réduisant efficacement le risque de coûts de production.
Le système’La flexibilité s'étend à la personnalisation,répondre aux besoins spécifiques des clients pour les projets d'inspection.Il permet un ajustement transparent des paramètres pour des processus uniques et des exigences de produit,assurer une inspection approfondie et des taux de détection améliorés.Opter pour des projets sur mesure offre une solution sur mesure,augmentant finalement l’efficacité de la production.
Choisir notre système d'inspection WaferEye810 signifie un engagement envers une qualité et une efficacité élevées..Laisser’s collaborent pour ouvrir la voie en ouvrant la voie à une nouvelle ère d’inspection AOI!

Caractéristiques

• Utilise la méthode de détection Line Scan,prenant en charge des plaquettes d'une taille allant jusqu'à 8 pouces
• Equipé d'un haut-résolution 2.8µCaméra m pour une capture claire des défauts de surface sur les plaquettes.
• Détecte les défauts d'une taille minimale d'environ 10 x 10µm.
• Capable d'inspecter les défauts de surface avant et après la découpe des plaquettes.
• Capable de détecter les défauts sur la surface de la plaquette et les plots de connexion(TAMPON),avec analyse ultérieure des défauts.
• Adaptable aux différentes exigences de l’industrie,permettant le remplacement ou l’ajout d’éléments d’inspection.
• Equipé d'un haut-ordinateur performant et écran tactile,assurant un fonctionnement pratique et réel-inspection de l'image temporelle.
• Un logiciel intelligent et intuitif améliore l'efficacité opérationnelle et la maintenance.
• Prend en charge l'inspection hors ligne,offrant la flexibilité nécessaire pour répondre aux demandes des différentes lignes de production.

Brochure WaferEye810

Caractéristiques
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Type de plaquette d'inspection:Substrat de verre gaufré
Taille de la plaquette d'inspection: ≦8-plaquette en pouces
Défauts d'inspection:Tranche:Gratter,Écaillage,Fissure；TAMPON:Décoloration,Contamination,Déformation
Taille de détection:10 x 10 um(Min..)
Source de lumière d'inspection:DIRIGÉ
Appareil de capture d'images:Caméra à balayage linéaire
Résolution:2.8 euh/pixels
Temps de contact:500 secondes./pièces(8-pouce)
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Matériel d'inspection:WaferEye810
Logiciel d'inspection:Système d'inspection des défauts
Dimensions de l'équipement:170 x 130 x 220 cm
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