ওয়েফার পৃষ্ঠ ত্রুটি পরিদর্শন

AOI স্বয়ংক্রিয় অপটিক্যাল পরিদর্শন

WaferEye810,8 এর জন্য ডিজাইন করা হয়েছে-ইঞ্চি ওয়েফার,ওয়েফারের উপরিভাগের ত্রুটিগুলির সুনির্দিষ্ট সনাক্তকরণের জন্য নিবেদিত একটি উন্নত সিস্টেম,উচ্চ নিশ্চিত করা-মান পরিদর্শন.কাটিং এর একীকরণের মাধ্যমে-প্রান্ত অপটিক্যাল সিস্টেম এবং উন্নত ছবি প্রক্রিয়াকরণ কৌশল,এই সিস্টেমটি 10 x 10 এর মতো ছোট পৃষ্ঠের ত্রুটিগুলি সনাক্ত করতে পারদর্শী&মাইক্রো;আকারে মি,স্ক্র্যাচ সহ,ভাঙ্গন,ফাটল,অস্বাভাবিক PADs,এবং আরো.বুদ্ধিমান সফ্টওয়্যার বাস্তব সক্রিয়-সময় চিত্র প্রদর্শন এবং ত্রুটি বিশ্লেষণ,ত্রুটির বিবরণ সহ অস্বাভাবিক ডাই চিপগুলির স্থানাঙ্কগুলি স্বয়ংক্রিয়ভাবে নথিভুক্ত করে.এটি ত্রুটিপূর্ণ ডাই চিপগুলিকে পরবর্তী প্রক্রিয়ায় অগ্রসর হতে বাধা দেয়,কার্যকরভাবে উত্পাদন খরচ ঝুঁকি হ্রাস.
পদ্ধতি’s নমনীয়তা কাস্টমাইজেশন প্রসারিত,পরিদর্শন প্রকল্পের জন্য নির্দিষ্ট গ্রাহকের চাহিদা মিটমাট করা.এটি অনন্য প্রক্রিয়া এবং পণ্যের প্রয়োজনীয়তার জন্য পরামিতিগুলির বিরামহীন সমন্বয়ের অনুমতি দেয়,পুঙ্খানুপুঙ্খ পরিদর্শন এবং বর্ধিত সনাক্তকরণ হার নিশ্চিত করা.কাস্টমাইজড প্রকল্পের জন্য নির্বাচন একটি উপযোগী সমাধান প্রদান করে,শেষ পর্যন্ত উত্পাদন দক্ষতা উন্নত.
আমাদের WaferEye810 পরিদর্শন সিস্টেম বেছে নেওয়া উচ্চ মানের এবং দক্ষতা উভয়ের প্রতি অঙ্গীকার নির্দেশ করে.দিন’AOI পরিদর্শনের একটি নতুন যুগের অগ্রগামী পথের নেতৃত্ব দিতে সহযোগিতা করে৷!

বৈশিষ্ট্য

• লাইন স্ক্যান সনাক্তকরণ পদ্ধতি ব্যবহার করে,8 ইঞ্চি পর্যন্ত আকারের ওয়েফার সমর্থন করে
• একটি উচ্চ সঙ্গে সজ্জিত-রেজোলিউশন 2.8&মাইক্রো;ওয়েফারগুলিতে পৃষ্ঠের ত্রুটিগুলি পরিষ্কার ক্যাপচারের জন্য m ক্যামেরা.
• প্রায় 10 x 10 এর ন্যূনতম আকারের ত্রুটিগুলি সনাক্ত করে&মাইক্রো;মি.
• ওয়েফার কাটার আগে এবং পরে পৃষ্ঠের ত্রুটিগুলি পরিদর্শন করতে সক্ষম.
• ওয়েফার পৃষ্ঠ এবং বন্ধন প্যাডের ত্রুটি সনাক্ত করতে সক্ষম(PAD),পরবর্তী ত্রুটি বিশ্লেষণ সহ.
• বিভিন্ন শিল্প প্রয়োজনীয়তা অভিযোজিত,পরিদর্শন আইটেম প্রতিস্থাপন বা যোগ করার জন্য অনুমতি দেয়.
• একটি উচ্চ সঙ্গে সজ্জিত-কর্মক্ষমতা কম্পিউটার এবং একটি স্পর্শ পর্দা,সুবিধাজনক অপারেশন এবং বাস্তব নিশ্চিত করা-সময় ইমেজ পরিদর্শন.
• স্বজ্ঞাত বুদ্ধিমান সফ্টওয়্যার অপারেশনাল দক্ষতা এবং রক্ষণাবেক্ষণ বাড়ায়.
• অফলাইন পরিদর্শন সমর্থন করে,বিভিন্ন উত্পাদন লাইনের চাহিদা মেটাতে নমনীয়তা প্রদান করে.

WaferEye810 ব্রোশিওর

স্পেসিফিকেশন
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
পরিদর্শন ওয়েফার টাইপ:ওয়েফার গ্লাস সাবস্ট্রেট
পরিদর্শন ওয়েফার আকার: ≦8-ইঞ্চি ওয়েফার
পরিদর্শন ত্রুটি:ওয়েফার:আঁচড়,চিপিং,ফাটল；PAD:বিবর্ণতা,দূষণ,বিকৃতি
সনাক্তকরণের আকার:10 x 10 um(মিন.)
পরিদর্শন আলো উৎস:এলইডি
ইমেজ ক্যাপচার ডিভাইস:লাইন স্ক্যান ক্যামেরা
রেজোলিউশন:2.8 উম/পিক্সেল
ট্যাক্ট টাইম:500 সেকেন্ড./পিসি(8-ইঞ্চি)
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
পরিদর্শন সরঞ্জাম:WaferEye810
পরিদর্শন সফটওয়্যার:ত্রুটি পরিদর্শন সিস্টেম
সরঞ্জাম মাত্রা:170 x 130 x 220 সেমি
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------