การตรวจสอบข้อบกพร่องพื้นผิวเวเฟอร์

การตรวจสอบด้วยแสงอัตโนมัติของ AOI

เวเฟอร์อาย810,ออกแบบมาสำหรับ 8-เวเฟอร์นิ้ว,เป็นระบบขั้นสูงสำหรับการตรวจจับข้อบกพร่องที่พื้นผิวบนเวเฟอร์อย่างแม่นยำ,มั่นใจสูง-การตรวจสอบคุณภาพ.ผ่านการบูรณาการการตัด-ระบบแสงขอบและเทคนิคการประมวลผลภาพขั้นสูง,ระบบนี้มีความเป็นเลิศในการตรวจจับข้อบกพร่องที่พื้นผิวที่มีขนาดเล็กเพียง 10 x 10&ไมโคร;ขนาดม,รวมถึงรอยขีดข่วน,การแตกหัก,รอยแตก,PAD ที่ผิดปกติ,และอื่น ๆ.ซอฟต์แวร์อัจฉริยะช่วยให้ใช้งานได้จริง-การแสดงภาพเวลาและการวิเคราะห์ข้อบกพร่อง,บันทึกพิกัดของชิปแม่พิมพ์ที่ผิดปกติพร้อมกับรายละเอียดข้อบกพร่องโดยอัตโนมัติ.วิธีนี้จะช่วยป้องกันไม่ให้ชิปแม่พิมพ์ที่มีข้อบกพร่องไปสู่กระบวนการถัดไป,ลดความเสี่ยงด้านต้นทุนการผลิตได้อย่างมีประสิทธิภาพ.
ระบบ’ความยืดหยุ่นขยายไปสู่การปรับแต่ง,รองรับความต้องการเฉพาะของลูกค้าสำหรับโครงการตรวจสอบ.ช่วยให้สามารถปรับพารามิเตอร์สำหรับกระบวนการเฉพาะและข้อกำหนดของผลิตภัณฑ์ได้อย่างราบรื่น,ช่วยให้มั่นใจในการตรวจสอบอย่างละเอียดและเพิ่มอัตราการตรวจจับ.การเลือกโครงการที่ปรับแต่งเองถือเป็นโซลูชันที่ปรับให้เหมาะสม,เป็นการยกระดับประสิทธิภาพการผลิตในที่สุด.
การเลือกระบบการตรวจสอบ WaferEye810 ของเราแสดงถึงความมุ่งมั่นในด้านคุณภาพและประสิทธิภาพสูง.อนุญาต’ร่วมมือกันเป็นผู้นำในการบุกเบิกการตรวจสอบ AOI ยุคใหม่!

คุณสมบัติ

• ใช้วิธีการตรวจจับ Line Scan,รองรับเวเฟอร์ขนาดสูงสุด 8 นิ้ว
• มาพร้อมกับความสูง-ความละเอียดที่ 2.8&ไมโคร;กล้อง m เพื่อจับภาพข้อบกพร่องบนพื้นผิวแผ่นเวเฟอร์ได้อย่างชัดเจน.
• ตรวจจับข้อบกพร่องด้วยขนาดขั้นต่ำประมาณ 10 x 10&ไมโคร;ม.
• สามารถตรวจสอบข้อบกพร่องที่พื้นผิวก่อนและหลังการตัดแผ่นเวเฟอร์.
• สามารถตรวจจับข้อบกพร่องบนพื้นผิวแผ่นเวเฟอร์และแผ่นประสานได้(พันธมิตรฯ),พร้อมการวิเคราะห์ข้อบกพร่องในภายหลัง.
• ปรับให้เข้ากับความต้องการของอุตสาหกรรมที่แตกต่างกัน,อนุญาตให้เปลี่ยนหรือเพิ่มรายการตรวจสอบได้.
• มาพร้อมกับความสูง-คอมพิวเตอร์ประสิทธิภาพสูงและหน้าจอสัมผัส,มั่นใจในการใช้งานได้สะดวกและสมจริง-การตรวจสอบภาพเวลา.
• ซอฟต์แวร์อัจฉริยะที่ใช้งานง่ายช่วยเพิ่มประสิทธิภาพการดำเนินงานและการบำรุงรักษา.
• รองรับการตรวจสอบแบบออฟไลน์,ให้ความยืดหยุ่นเพื่อตอบสนองความต้องการของสายการผลิตต่างๆ.

โบรชัวร์ WaferEye810

ข้อมูลจำเพาะ
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
การตรวจสอบประเภทเวเฟอร์:พื้นผิวกระจกเวเฟอร์
การตรวจสอบขนาดเวเฟอร์: ≦8-เวเฟอร์นิ้ว
ข้อบกพร่องในการตรวจสอบ:เวเฟอร์:เกา,บิ่น,แตก；พันธมิตรฯ:การเปลี่ยนสี,การปนเปื้อน,การเสียรูป
ขนาดการตรวจจับ:10 x 10 อืม(นาที.)
แหล่งกำเนิดแสงตรวจสอบ:นำ
อุปกรณ์จับภาพ:กล้องสแกนเส้น
ปณิธาน:2.8 อืม/พิกเซล
เวลาชั้นเชิง:500 วินาที./ชิ้น(8-นิ้ว)
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
อุปกรณ์ตรวจสอบ:เวเฟอร์อาย810
ซอฟต์แวร์ตรวจสอบ:ระบบตรวจสอบข้อบกพร่อง
ขนาดอุปกรณ์:170 x 130 x 220 ซม
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------