Fehlerprüfsystem
Microtek International, Inc. spezialisiert sich auf die Herstellung und liefert und exportiert Fehlerprüfsystem, mit einer Fabrik in Taiwan. Es ist immer unser Fokus gewesen, zum der hochwertigen produkte herzustellen und sie wie pro Zeitplan zu liefern. Unser erfinderischer Geist ermöglicht uns, vor unseren Konkurrenten zu gehen, die mit den hochstentwickelten Prüfungsanlagen der produkte ausgerüstet werden. Anfragen von den globalen Grossisten, von den Verteilern, von den Kunden, von den Mitteln und von der OEM/ODM werden begrüßt.
Fehlerprüfsystem
Modell - 10-4,FAI-630
Scan- und Inspektionsmodul
Einführung
FAI-630 ist kein-kontakt farblineares bilderfassungsmodul,die sich für die Verwendung mit verschiedenen Förderbändern eignet, um große-Bilder präzise skalieren.Mit der Auflösung beträgt bis zu 20μm,der Scanbereich beträgt bis zu 12 x 24 Zoll und der Arbeitsabstand beträgt bis zu 2.5 cm,FAI-630 funktioniert am besten für FAI oder Identifizierung,Vergleichen und Inspizieren von Bildern von PWBA vor dem Einfügen von Lot.Der Arbeitsabstand des FAI-630 kann nach Kundenwunsch angepasst werden’Forderungen.
Merkmale
Spezifikationen
Scanbereich:12”x 24”
Arbeitsentfernung:2.5 cm
Scanauflösung:20μm
Bildsensortyp:Farblineares CCD
Einführung
FAI-630 ist kein-kontakt farblineares bilderfassungsmodul,die sich für die Verwendung mit verschiedenen Förderbändern eignet, um große-Bilder präzise skalieren.Mit der Auflösung beträgt bis zu 20μm,der Scanbereich beträgt bis zu 12 x 24 Zoll und der Arbeitsabstand beträgt bis zu 2.5 cm,FAI-630 funktioniert am besten für FAI oder Identifizierung,Vergleichen und Inspizieren von Bildern von PWBA vor dem Einfügen von Lot.Der Arbeitsabstand des FAI-630 kann nach Kundenwunsch angepasst werden’Forderungen.
Merkmale
- Nicht-Die Kontaktbilderfassungstechnologie gewährleistet die Vollständigkeit der gescannten Ziele
- Die Verwendung zusammen mit verschiedenen Lichtwinkeln, um Bilder von gescannten Zielen aufzunehmen, stellt die Eigenschaften verschiedener Materialien klar dar
Spezifikationen
Scanbereich:12”x 24”
Arbeitsentfernung:2.5 cm
Scanauflösung:20μm
Bildsensortyp:Farblineares CCD
Unsere Sachkenntnis hat, uns zu ermöglichen, Qualität
Fehlerprüfsystem
sicherzustellen, indem sie unsere produkte strikten Qualitätskontrollemaßnahmen während jedes Verarbeitungsgrades und während Abfertigung unterwirft. Wir begrüßen herzlichst alle relevanten Freunde auf der ganzen Erde, um für Besuch und Mitarbeit zu kommen!Enquiry Now
Produkte Liste
Microtek International, Inc.
Fehlerprüfsystem Hersteller und Fehlerprüfsystem Lieferant auch ,Großhandel,Vertriebspartner,OEM,ODM-über 69,755 Käufer auf der ganzen Welt bestimagescanner.com
10-1,2D Barcode Inspection Solution
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/barcode-inspection-system.html
Microtek International, Inc.
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10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
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10-3,IC Flaw Inspection System
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10-5,LT-050
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2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/defect-detection-system.html
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10-6,WaferEye 810
none
999999999
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USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/surface-defect-inspection.html
Microtek International, Inc.
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