English
Français
Deutsch
Русский
Português
Italiano
हिन्दी
Español
العربية
Tiếng Việt
ภาษาไทย
Bahasa Indonesia
বাঙ্গালী
Türk
繁體中文Inspectiesysteem voor defecten
Microtek International, Inc. specialiseert zich in de Productie van, het Voorzien van en het Uitvoeren van Van de Inspectiesysteem voor defecten, met een fabriek in Taiwan.Het is altijd onze nadruk geweest om Van de bron hoogste kwaliteits producten te vervaardigen en hen te leveren vanaf programma.Onze innovatieve geest laat ons toe om voor onze concurrenten te gaan die met de meest geavanceerde testende faciliteiten van Van de producten uitgerust.De onderzoeken van globale groothandelaars, verdelers, kopers, agenten en Van de OEM/ODM worden ingestemd met.
Inspectiesysteem voor defecten
Model - 10-4,FAI-630
Scan- en inspectiemodule
Invoering
FAI-630 is een niet-module voor het vastleggen van lineaire afbeeldingen in contactkleuren,die geschikt is om samen met verschillende transportbanden te gebruiken om grote-schaal afbeeldingen nauwkeurig.Met de resolutie is tot 20μm,het scangebied is maximaal 12 x 24 inch en de werkafstand is maximaal 2.5 cm,FAI-630 werkt het beste voor FAI of identificatie,afbeeldingen van PWBA vergelijken en inspecteren voordat soldeer wordt geplakt;.De werkafstand van de FAI-630 kan volgens klanten worden aangepast;’eisen.
Functies
Specificaties:
Scangebied：12”x 24”
Werkafstand：2.5 cm
Scanresolutie：20μm
Type beeldsensor：Kleur lineaire CCD
Invoering
FAI-630 is een niet-module voor het vastleggen van lineaire afbeeldingen in contactkleuren,die geschikt is om samen met verschillende transportbanden te gebruiken om grote-schaal afbeeldingen nauwkeurig.Met de resolutie is tot 20μm,het scangebied is maximaal 12 x 24 inch en de werkafstand is maximaal 2.5 cm,FAI-630 werkt het beste voor FAI of identificatie,afbeeldingen van PWBA vergelijken en inspecteren voordat soldeer wordt geplakt;.De werkafstand van de FAI-630 kan volgens klanten worden aangepast;’eisen.
Functies
- Niet-technologie voor het vastleggen van contactafbeeldingen zorgt voor de volledigheid van gescande doelen
- Door samen met verschillende lichthoeken afbeeldingen van gescande doelen vast te leggen, worden de kenmerken van verschillende materialen duidelijk weergegeven
Specificaties:
Scangebied：12”x 24”
Werkafstand：2.5 cm
Scanresolutie：20μm
Type beeldsensor：Kleur lineaire CCD
Onze deskundigheid heeft ons toelaten om de van de
Inspectiesysteem voor defecten
te verzekeren door onze Van de producten aan stringente kwaliteitscontrolemaatregelen tijdens elk productiestadium te onderwerpen en terwijl bericht.Wij heten oprecht alle relevante vrienden helemaal over de wereld welkom om voor bezoek en samenwerking te komen!Enquiry Now
Producten Lijst
Microtek International, Inc.
Inspectiesysteem voor defecten fabrikant en Inspectiesysteem voor defecten leverancier ook ,groothandel,distributeurs,OEM,ODM-over 15,907 kopers over de hele wereld in bestimagescanner.com
10-1,2D Barcode Inspection Solution
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/barcode-inspection-system.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
100user ratings
Microtek International, Inc.
Inspectiesysteem voor defecten fabrikant en Inspectiesysteem voor defecten leverancier ook ,groothandel,distributeurs,OEM,ODM-over 15,907 kopers over de hele wereld in bestimagescanner.com
10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/textile-inspection-system.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
100user ratings
Microtek International, Inc.
Inspectiesysteem voor defecten fabrikant en Inspectiesysteem voor defecten leverancier ook ,groothandel,distributeurs,OEM,ODM-over 15,907 kopers over de hele wereld in bestimagescanner.com
10-3,IC Flaw Inspection System
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/ic-inspection.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
100user ratings
Microtek International, Inc.
Inspectiesysteem voor defecten fabrikant en Inspectiesysteem voor defecten leverancier ook ,groothandel,distributeurs,OEM,ODM-over 15,907 kopers over de hele wereld in bestimagescanner.com
10-5,LT-050
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/defect-detection-system.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
100user ratings
Microtek International, Inc.
Inspectiesysteem voor defecten fabrikant en Inspectiesysteem voor defecten leverancier ook ,groothandel,distributeurs,OEM,ODM-over 15,907 kopers over de hele wereld in bestimagescanner.com
10-6,WaferEye 810
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/surface-defect-inspection.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
100user ratings