IC Inspectionis

IC Vitium Inspectionis System

Abstract
Non-contactus imaginis capiendi adhiberi potest ad inspiciendas magnas volumina eu in uno tempore.

Introductio
IC eu sunt parvae in magnitudine,subtilior in structuram,et magna in productione;ergo,necessaria sunt instrumenta ad accurate et efficax ut inspectionem qualitas adiuvet.Solutio inspicienda pro defectibus apparentiarum IC, utendo non-contactus object scanner,solum disposito per Microtek,capere imagines IC eu,efficacius vitando misjudgments ex damno IC eu.Objectum Scanner potest capere magna-magnitudines imaginum scandet et sic potest tractare magna volumina xxxiii uno tempore ieiunare,levandi inspectione tempus efficacius.
Utens una cum MiQC-I C,defectus inspectionem et administratione ratio,aureum specimen facile ab operator.Plus,provectus technology in usu,deficiens area inveniri potest ac presse notata.Post imagines cum defectibus ad systematis administrationem redactae sunt,users invenire id quod quaerunt ex sonis notitiarum cito utendo nominibus documentorum,imposuisti dies vel defectus notitia,augendae in administratione efficacius et efficax.

Features

• Non-contactus captorum imaginum perficit plenitudinem obiecti
• Captis magna-magnitudo operis efficaciam imaginem auget magna volumina eu
• Sustinet imaginem intuens variarum IC chippis
• Potest eligere aureum specimen manually;tunc ",systema notabis positiones pro omnibus eu et incipiet defectus comparationes automatice
• Posse praestare Smert Quaerere utendo imparibus numeris,inspectis items,aut punctum Lectio
• Capax est genera defectivi constituere et ad specifica inquisitionem facienda utendo defectus items vel dies notas
• Solum-software inspectionem designari potest erigi uti in PC et interreti

AOI Brochure

Specifications
Scanning Area：52 x 38 cm
opus distantia：7 cm
ENARRATIO Consilium：20&mu*;m
Imago Sensor Type：Color linearis CCD