웨이퍼 표면 결함 검사

AOI 자동 광학 검사

웨이퍼아이810,8을 위해 설계-인치 웨이퍼,웨이퍼의 표면 결함을 정밀하게 검출하는 첨단 시스템입니다.,높은 보장-품질 검사.절단의 통합을 통해-엣지 광학 시스템 및 고급 이미지 처리 기술,이 시스템은 10 x 10만큼 작은 표면 결함을 감지하는 데 탁월합니다.&마이크로;m 사이즈,흠집을 포함하여,파손,균열,비정상적인 PAD,그리고 더.지능형 소프트웨어로 실제-시간 이미지 표시 및 결함 분석,결함 세부 사항과 함께 비정상적인 다이 칩의 좌표를 자동으로 문서화합니다..이는 결함이 있는 다이 칩이 다음 공정으로 진행되는 것을 방지합니다.,생산 비용의 위험을 효과적으로 줄입니다..
시스템’유연성은 맞춤화까지 확장됩니다.,검사 프로젝트에 대한 특정 고객 요구 사항 수용.고유한 프로세스 및 제품 요구 사항에 대한 매개변수를 원활하게 조정할 수 있습니다.,철저한 검사와 향상된 탐지율 보장.맞춤형 프로젝트를 선택하면 맞춤형 솔루션이 제공됩니다.,궁극적으로 생산 효율성 향상.
WaferEye810 검사 시스템을 선택하는 것은 높은 품질과 효율성 모두에 대한 약속을 의미합니다..허락하다’AOI 검사의 새로운 시대를 선도하기 위해 협력하고 있습니다.!

특징

• Line Scan 감지 방식 활용,최대 8인치 크기의 웨이퍼 지원
• 높은 설비를 갖춘-결의안 2.8&마이크로;웨이퍼의 표면 결함을 명확하게 포착하는 m 카메라.
• 약 10 x 10 크기의 최소 크기로 결함을 감지합니다.&마이크로;중.
• 웨이퍼 절단 전후 표면 결함 검사 가능.
• 웨이퍼 표면 및 본딩 패드의 결함 검출 가능(인주),후속 결함 분석을 통해.
• 다양한 산업 요구 사항에 적응 가능,검사 항목의 교체 또는 추가 허용.
• 높은 설비를 갖춘-고성능 컴퓨터와 터치스크린,편리한 작동과 실제 보장-시간 이미지 검사.
• 직관적인 지능형 소프트웨어로 운영 효율성과 유지 관리가 향상됩니다..
• 오프라인 검사 지원,다양한 생산 라인의 요구 사항을 충족할 수 있는 유연성 제공.

WaferEye810 브로셔

명세서
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검사 웨이퍼 종류:웨이퍼 유리 기판
검사 웨이퍼 크기: ≦8-인치 웨이퍼
검사 결함:웨이퍼:할퀴다,치핑,금이 가다；인주:변색,오염,흉한 모습
감지 크기:10 x 10 음(최소.)
검사 광원:주도의
이미지 캡처 장치:라인 스캔 카메라
해결:2.8음/픽셀
택트타임:500초./PC(8-인치)
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검사장비:웨이퍼아이810
검사 소프트웨어:불량검사 시스템
장비 크기:170x130x220cm
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