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결함 검사 시스템

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  • 결함 검사 시스템 - 10-4,FAI-630
결함 검사 시스템
모형 - 10-4,FAI-630
스캔 및 검사 모듈

소개
파이-630은 비-접촉 컬러 선형 이미지 캡처 모듈,대형을 포착하기 위해 다양한 컨베이어와 함께 사용하기에 적합합니다.-이미지를 정확하게 축척.해상도는 최대 20&뮤;중,스캔 영역은 최대 12 x 24인치이고 작업 거리는 최대 2입니다..5cm,파이-630은 FAI 또는 식별에 가장 적합합니다.,솔더를 붙이기 전 PWBA의 이미지 비교 및 검사.FAI의 작동 거리-630은 고객에 따라 주문을 받아서 만들어질 수 있습니다&르쿠오;요구.

특징
  • 비-접촉 이미지 캡처 기술은 스캔 대상의 완전성을 보장합니다.
  • 서로 다른 각도의 조명과 함께 사용하여 스캔 대상의 이미지를 캡처하면 서로 다른 재료의 특성이 명확하게 나타납니다.
AOI 브로셔

명세서
스캔 영역：12”x 24”
작동 거리：2.5cm
스캔 해상도：20&뮤;중
이미지 센서 유형：컬러 선형 CCD
우리의 전문 지식은 우리가 최고를 보장하도록하고있다

결함 검사 시스템

생산의 각 단계와 파견 동안 엄격한 품질 관리 대책에 우리 제품을 쓰는하여. 우리는 진심으로 모든 방문 및 협력을 위해 올하는 전세계에 걸쳐 모든 관련 친구들을 환영합니다!
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제품 명부
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바코드 검사 시스템 - 10-1,2D Barcode Inspection Solution
바코드 검사 시스템
10-1,2D Barcode Inspection Solution
Microtek International, Inc.
결함 검사 시스템 제조 업체 결함 검사 시스템 공급 업체도 공장 도매 유통 업체 - 전 세계 11,833여 바이어에 bestimagescanner.com
10-1,2D Barcode Inspection Solution
none
999999999 http://schema.org/InStock USD 2020-12-31
90out of 100based on 100user ratings
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섬유 검사 시스템 - 10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
섬유 검사 시스템
10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
Microtek International, Inc.
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10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
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IC 검사 - 10-3,IC Flaw Inspection System
IC 검사
10-3,IC Flaw Inspection System
Microtek International, Inc.
결함 검사 시스템 제조 업체 결함 검사 시스템 공급 업체도 공장 도매 유통 업체 - 전 세계 11,833여 바이어에 bestimagescanner.com
10-3,IC Flaw Inspection System
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999999999 http://schema.org/InStock USD 2020-12-31
90out of 100based on 100user ratings
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위빙테이프 AI 불량검사 - 10-5,LT-050
위빙테이프 AI 불량검사
10-5,LT-050
Microtek International, Inc.
결함 검사 시스템 제조 업체 결함 검사 시스템 공급 업체도 공장 도매 유통 업체 - 전 세계 11,833여 바이어에 bestimagescanner.com
10-5,LT-050
none
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웨이퍼 표면 결함 검사 - 10-6,WaferEye 810
웨이퍼 표면 결함 검사
10-6,WaferEye 810
Microtek International, Inc.
결함 검사 시스템 제조 업체 결함 검사 시스템 공급 업체도 공장 도매 유통 업체 - 전 세계 11,833여 바이어에 bestimagescanner.com
10-6,WaferEye 810
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