IC検査
私たちはTaiwanからのIC検査の製造業者および卸売業者です。 豊富な輸出経験により、高品質の製品を保証するだけでなく、より競争力のある価格と最高のサービスを提供します。 輸出市場での成功経験により、ディーラーと企業のニーズを同時に満たすことができます。 当社には、ハイテクと専門的なスキルを備えた優れたエンジニアのグループがあり、当社の製品は多くの認証に合格しています。製品は、品質を保証するために販売前に専門的な品質管理と検査に合格しています。
IC検査
型番 - 10-3,IC Flaw Inspection System
IC欠陥検査システム
概要
非-接触画像キャプチャは、一度に大量のチップを検査するために使用できます.
序章
ICチップはサイズが小さい,繊細な構造,生産量が多い;したがって,品質検査を支援するための正確で効率的なツールが必要です.ICの外観の欠陥の検査ソリューションは、-接触オブジェクトスキャナー,Microtekによって独占的に設計された,ICチップの画像をキャプチャする,ICチップの損傷による誤判断を効果的に回避.オブジェクトスキャナーは、大規模なキャプチャが可能です-画像のサイズを拡大縮小するため、大量のチップを一度に高速に処理できます,検査時間を効果的に短縮.
MiQCと一緒に使用する-IC,欠陥検査および管理システム,ゴールデンサンプルはオペレーターが簡単に選択できます.プラス,使用中の高度な技術,欠陥のある領域を見つけて正確にマークすることができます.欠陥のある画像が管理システムにアップロードされた後,ユーザーは、ファイル名を使用して、大量のデータから探しているものをすばやく見つけることができます,日付または欠陥情報のアップロード,より効果的かつ効率的な管理の強化.
特徴
仕様
スキャンエリア:52 x 38 cm
作動距離:7cm
スキャン解像度:20&ムー;m
イメージセンサータイプ:カラーリニアCCD
概要
非-接触画像キャプチャは、一度に大量のチップを検査するために使用できます.
序章
ICチップはサイズが小さい,繊細な構造,生産量が多い;したがって,品質検査を支援するための正確で効率的なツールが必要です.ICの外観の欠陥の検査ソリューションは、-接触オブジェクトスキャナー,Microtekによって独占的に設計された,ICチップの画像をキャプチャする,ICチップの損傷による誤判断を効果的に回避.オブジェクトスキャナーは、大規模なキャプチャが可能です-画像のサイズを拡大縮小するため、大量のチップを一度に高速に処理できます,検査時間を効果的に短縮.
MiQCと一緒に使用する-IC,欠陥検査および管理システム,ゴールデンサンプルはオペレーターが簡単に選択できます.プラス,使用中の高度な技術,欠陥のある領域を見つけて正確にマークすることができます.欠陥のある画像が管理システムにアップロードされた後,ユーザーは、ファイル名を使用して、大量のデータから探しているものをすばやく見つけることができます,日付または欠陥情報のアップロード,より効果的かつ効率的な管理の強化.
特徴
- 非-画像の接触キャプチャは、スキャンされたオブジェクトの完全性を保証します
- 大規模なキャプチャ-スケール画像により、大量のチップの作業効率が向上します
- さまざまなICチップの画像スキャンをサポート
- ゴールデンサンプルを手動で選択できます;それから,システムはすべてのチップの位置をマークし、欠陥の比較を自動的に開始します
- 奇数を使用してスマート検索を実行できます,アイテムの検査,またはポイントリーディング
- 欠陥カテゴリを設定し、欠陥アイテムを使用したり日付をアップロードしたりして特定の検索を実行できます
- 独占的に-設計された検査ソフトウェアは、PCおよびWebで使用するように設定できます
仕様
スキャンエリア:52 x 38 cm
作動距離:7cm
スキャン解像度:20&ムー;m
イメージセンサータイプ:カラーリニアCCD
あなたは私たちの製品に興味があれば、ご遠慮なくご連絡ください。私たちはあなたの要求を受け取ることを光栄に思っています。私たちはあなたとのビジネスを行うことを熱望している。特定のを見つけることを願って
IC検査
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製品案内 製品一覧
Microtek International, Inc.
最高のIC検査を見つけて購入するには、IC検査の最高品質のメーカー、サプライヤー、卸売業者、販売業者をTaiwanの工場から知る必要があります。
10-1,2D Barcode Inspection Solution
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/barcode-inspection-system.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
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Microtek International, Inc.
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10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
none
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USD
2020-12-31
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10-4,FAI-630
none
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https://www.bestimagescanner.com/defect-inspection-system.html
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10-5,LT-050
none
999999999
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2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/defect-detection-system.html
Microtek International, Inc.
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10-6,WaferEye 810
none
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USD
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https://www.bestimagescanner.com/surface-defect-inspection.html
Microtek International, Inc.
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