IC ellenőrzés

IC hibavizsgáló rendszer

Absztrakt
Nem-A kontaktképrögzítés nagy mennyiségű chip egyidejű vizsgálatára használható.

Bevezetés
Az IC chipek kis méretűek,finom szerkezetű,és nagy a termelés;ebből kifolyólag,pontos és hatékony eszközökre van szükség a minőségellenőrzés elősegítésére.Az IC megjelenési hibáinak vizsgálati megoldása nem-kontaktobjektum-szkenner,kizárólag a Microtek által tervezett,IC chipek képeinek rögzítésére,hatékonyan elkerüli az IC chipek károsodásából eredő téves megítéléseket.A tárgyszkenner képes nagy méretű rögzítésre-méretezheti a képeket, és így egyszerre nagy mennyiségű chipet képes gyorsan kezelni,az ellenőrzési idő hatékony lerövidítése.
MiQC-vel együtt használva-IC,hibaellenőrző és -kezelési rendszer,aranyminta könnyen kiválasztható a kezelő által.Plusz,fejlett technológia használatban van,a hibás terület pontosan megtalálható és megjelölhető.Miután a hibás képeket feltöltötte a felügyeleti rendszerbe,a felhasználók a fájlnevek használatával gyorsan megtalálhatják az adattónusokból, amit keresnek,dátumok vagy hibainformációk feltöltése,az irányítás hatékonyabbá és eredményesebbé tétele.

Jellemzők

• Nem-a képek kontaktrögzítése biztosítja a szkennelt objektumok teljességét
• Egy nagy rögzítése-A méretarányos kép növeli a munka hatékonyságát nagy mennyiségű forgács esetén
• Támogatja a különböző IC chipek képszkennelését
• Képes egy aranyminta manuális kiválasztására;azután,a rendszer megjelöli az összes zseton pozícióját, és automatikusan elindítja a hibák összehasonlítását
• Képes Intelligens keresés végrehajtására páratlan számok használatával,tételek ellenőrzése,vagy pontolvasás
• Képes hibakategóriák beállítására és konkrét keresés végrehajtására hibaelemek vagy feltöltési dátumok használatával
• Kizárólagosan-tervezett ellenőrző szoftver beállítható PC-n és weben történő használatra

AOI brosúra

Műszaki adatok
Szkennelési terület：52 x 38 cm
Munkatávolság：7 cm
Szkennelési felbontás：20μm
Képérzékelő típusa：Színes lineáris CCD