Kontrola IC

Systém kontroly chýb IC

Abstraktné
Nie-snímanie kontaktného obrazu možno použiť na kontrolu veľkých objemov čipov naraz.

Úvod
IC čipy majú malú veľkosť,jemná v štruktúre,a veľké vo výrobe;preto,sú potrebné presné a efektívne nástroje na pomoc pri kontrole kvality.Riešenie na kontrolu defektov vzhľadu IC je pomocou non-kontaktný skener objektov,exkluzívne navrhnuté spoločnosťou Microtek,na snímanie obrázkov IC čipov,efektívne predchádzanie nesprávnym úsudkom spôsobeným poškodením IC čipov.Objektový skener je schopný zachytiť veľké-škálovateľné veľkosti obrázkov, a preto dokáže spracovať veľké objemy čipov rýchlo naraz,efektívne skrátiť čas kontroly.
Použitie spolu s MiQC-IC,systém kontroly a riadenia defektov,zlatú vzorku môže operátor jednoducho vybrať.Plus,používaná pokročilá technológia,je možné nájsť a presne označiť chybnú oblasť.Po nahratí obrázkov s chybami do riadiaceho systému,používatelia môžu rýchlo nájsť to, čo hľadajú, z tónov údajov pomocou názvov súborov,dátumy nahrávania alebo informácie o chybe,zefektívniť a zefektívniť riadenie.

Vlastnosti

• Nie-kontaktné snímanie obrázkov zabezpečuje úplnosť naskenovaných objektov
• Zachytenie veľkého-mierka obrazu zvyšuje efektivitu práce pri veľkých objemoch čipov
• Podporuje skenovanie obrazu rôznych IC čipov
• Možnosť manuálneho výberu zlatej vzorky;potom,systém označí pozície pre všetky čipy a automaticky spustí porovnávanie defektov
• Schopný vykonávať inteligentné vyhľadávanie pomocou nepárnych čísel,kontrola predmetov,alebo bodové čítanie
• Schopný nastaviť kategórie defektov a vykonať špecifické vyhľadávanie pomocou chybných položiek alebo nahrávania dátumov
• Výhradne-navrhnutý inšpekčný softvér je možné nastaviť na použitie na PC a webe

Brožúra AOI

technické údaje
Oblasť skenovania：Rozmer 52 x 38 cm
Pracovná vzdialenosť：7 cm
Rozlíšenie skenovania：20μm
Typ obrazového snímača：Farebný lineárny CCD