Inspecția defectelor de suprafață a plachetelor

Inspecție optică automată AOI

WaferEye810,conceput pentru 8-napolitane inch,este un sistem avansat dedicat detectării precise a defectelor de suprafață pe plachete,asigurând înaltă-Inspectia calitatii.Prin integrarea tăierii-sisteme optice de margine și tehnici avansate de procesare a imaginii,acest sistem excelează în detectarea defectelor de suprafață de până la 10 x 10µm în mărime,inclusiv zgârieturi,spargeri,fisuri,PAD-uri anormale,și altele.Software-ul inteligent permite real-afișarea timpului imaginii și analiza defectelor,documentează automat coordonatele așchiilor de matriță anormale împreună cu detaliile defectelor.Acest lucru împiedică așchiile de matriță defecte să treacă la următorul proces,reducerea eficientă a riscului costurilor de producție.
Sistemul’Flexibilitatea se extinde la personalizare,satisfacerea nevoilor specifice ale clienților pentru proiecte de inspecție.Permite ajustarea fără probleme a parametrilor pentru procese unice și cerințe de produs,asigurând o inspecție amănunțită și rate de detectare îmbunătățite.Optarea pentru proiecte personalizate oferă o soluție personalizată,în cele din urmă, creșterea eficienței producției.
Alegerea sistemului nostru de inspecție WaferEye810 înseamnă un angajament atât față de înaltă calitate, cât și față de eficiență.Lăsa’colaborăm pentru a deschide calea în lansarea unei noi ere a inspecției AOI!

Caracteristici

• Utilizează metoda de detectare Line Scan,susțin napolitane de până la 8 inci în dimensiune
• Echipat cu un înalt-rezoluția 2.8µcamera m pentru captarea clară a defectelor de suprafață pe plachete.
• Detectează defecte cu o dimensiune minimă de aproximativ 10 x 10µm.
• Capabil să inspecteze defectele suprafeței înainte și după tăierea napolitanelor.
• Capabil să detecteze defectele de pe suprafața plachetelor și a plăcuțelor de lipire(PAD),cu analiza ulterioară a defectelor.
• Adaptabil la diferite cerințe ale industriei,permițând înlocuirea sau adăugarea articolelor de inspecție.
• Echipat cu un înalt-computer de performanță și un ecran tactil,asigurând o funcționare convenabilă și reală-inspecția de timp a imaginii.
• Software-ul inteligent intuitiv îmbunătățește eficiența operațională și întreținerea.
• Acceptă inspecția offline,oferind flexibilitate pentru a satisface cerințele diferitelor linii de producție.

Broșura WaferEye810

Specificații
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Tip de napolitană de inspecție:Substrat de sticlă pentru napolitană
Dimensiunea plăcilor de inspecție: ≦8-napolitană inci
Defecte de inspecție:Napolitana:Zgârietură,Chipping,Sparge；PAD:Decolorare,Contaminare,Deformare
Dimensiunea de detectare:10 x 10 um(Min.)
Sursă de lumină de inspecție:LED
Dispozitiv de captare a imaginii:Camera de scanare linie
Rezoluţie:2.8 um/pixel
Tact Time:500 sec./buc(8-inch)
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Echipamente de inspecție:WaferEye810
Software de inspecție:Sistem de inspectare a defectelor
Dimensiunile echipamentului:170 x 130 x 220 cm
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------