Pemeriksaan IC

Sistem Pemeriksaan Cacat IC

abstrak
Bukan-tangkapan imej kenalan boleh digunakan untuk memeriksa jumlah cip yang besar pada satu masa.

pengenalan
Cip IC bersaiz kecil,halus dalam struktur,dan besar dalam pengeluaran;Oleh itu,terdapat keperluan untuk alat yang tepat dan cekap untuk membantu dalam pemeriksaan kualiti.Penyelesaian Pemeriksaan untuk Kecacatan penampilan IC adalah dengan menggunakan bukan-pengimbas objek kenalan,direka secara eksklusif oleh Microtek,untuk menangkap imej cip IC,berkesan mengelakkan salah penilaian yang disebabkan oleh kerosakan cip IC.Pengimbas objek mampu menangkap besar-saiz skala imej dan dengan itu ia boleh mengendalikan jumlah cip yang besar dengan pantas pada satu masa,memendekkan masa pemeriksaan dengan berkesan.
Menggunakan bersama-sama dengan MiQC-KAD PENGENALAN,sistem pemeriksaan dan pengurusan kecacatan,sampel emas boleh dipilih dengan mudah oleh pengendali.Tambahan pula,teknologi canggih yang digunakan,kawasan yang rosak boleh dicari dan ditanda dengan tepat.Selepas imej dengan kecacatan telah dimuat naik ke sistem pengurusan,pengguna boleh mencari apa yang mereka cari daripada nada data dengan cepat dengan menggunakan nama fail,memuat naik tarikh atau maklumat kecacatan,mempertingkatkan pengurusan dengan lebih berkesan dan cekap.

ciri-ciri

• Bukan-penangkapan imej kenalan memastikan kesempurnaan objek yang diimbas
• Menangkap yang besar-imej skala meningkatkan kecekapan kerja untuk jumlah cip yang besar
• Menyokong pengimbasan imej pelbagai cip IC
• Mampu memilih sampel emas secara manual;kemudian,sistem akan menandakan kedudukan untuk semua cip dan memulakan perbandingan kecacatan secara automatik
• Mampu melakukan Carian Pintar dengan menggunakan nombor ganjil,memeriksa barang,atau bacaan mata
• Mampu untuk menyediakan kategori kecacatan dan melakukan carian tertentu dengan menggunakan item kecacatan atau tarikh muat naik
• Secara eksklusif-perisian pemeriksaan yang direka bentuk boleh disediakan untuk digunakan pada PC dan web

Brosur AOI

Spesifikasi
Kawasan Pengimbasan：52 x 38 cm
Jarak Kerja：7 cm
Resolusi Pengimbasan：20μm
Jenis Penderia Imej：Warna CCD linear