Վաֆլի մակերեսի թերությունների ստուգում

AOI ավտոմատ օպտիկական ստուգում

WaferEye810,նախատեսված է 8-դյույմ վաֆլիներ,առաջադեմ համակարգ է, որը նվիրված է վաֆլիների վրա մակերեսային թերությունների ճշգրիտ հայտնաբերմանը,ապահովելով բարձր-որակի ստուգում.Կտրման ինտեգրման միջոցով-եզրային օպտիկական համակարգեր և պատկերների մշակման առաջադեմ տեխնիկա,այս համակարգը գերազանցում է 10 x 10 չափսի մակերեսային թերությունները հայտնաբերելու հարցում&միկրո;մ չափով,ներառյալ քերծվածքները,կոտրվածքներ,ճաքեր,աննորմալ PAD-ներ,եւ ավելին.Խելացի ծրագրակազմը հնարավորություն է տալիս իրական-ժամանակի պատկերի ցուցադրում և թերությունների վերլուծություն,ավտոմատ կերպով փաստաթղթավորելով աննորմալ դիզային չիպերի կոորդինատները՝ թերության մանրամասների հետ միասին.Սա թույլ չի տալիս, որ թերի չիպերը անցնեն հաջորդ գործընթացին,արդյունավետորեն նվազեցնելով արտադրության ծախսերի ռիսկը.
Համակարգը’ճկունությունը տարածվում է անհատականացման վրա,բավարարել հաճախորդների հատուկ կարիքները տեսչական նախագծերի համար.Այն թույլ է տալիս անխափան կարգավորել պարամետրերը եզակի գործընթացների և արտադրանքի պահանջների համար,ապահովելով մանրակրկիտ ստուգում և բարձրացված հայտնաբերման արագություն.Անհատականացված նախագծերի ընտրությունը տալիս է հարմարեցված լուծում,վերջիվերջո բարձրացնելով արտադրության արդյունավետությունը.
Ընտրելով մեր WaferEye810 ստուգման համակարգը նշանակում է բարձր որակ և արդյունավետություն:.Թող’Համագործակցում ենք AOI-ի ստուգման նոր դարաշրջանի առաջխաղացման համար!

Հատկություններ

• Օգտագործում է Line Scan-ի հայտնաբերման մեթոդը,կրող վաֆլիներ մինչև 8 դյույմ չափի
• Հագեցած է բարձր-բանաձեւ 2.8&միկրո;մ տեսախցիկ վաֆլի վրա մակերևութային թերությունների հստակ ֆիքսման համար.
• Հայտնաբերում է մոտ 10 x 10 նվազագույն չափի թերություններ&միկրո;մ.
• Կարող է ստուգել մակերեսային թերությունները վաֆլի կտրումից առաջ և հետո.
• Հնարավոր է հայտնաբերել վաֆլի մակերեսի և կապող բարձիկների թերությունները(ՊԱԴ),հետագա թերությունների վերլուծությամբ.
• Հարմարվողական է արդյունաբերության տարբեր պահանջներին,թույլ տալով փոխարինել կամ ավելացնել ստուգման առարկաները.
• Հագեցած է բարձր-կատարողական համակարգիչ և սենսորային էկրան,ապահովելով հարմարավետ շահագործում և իրական-ժամանակի պատկերի ստուգում.
• Ինտուիտիվ խելացի ծրագրաշարը բարձրացնում է գործառնական արդյունավետությունը և սպասարկումը.
• Աջակցում է անցանց ստուգմանը,ապահովելով ճկունություն՝ բավարարելու տարբեր արտադրական գծերի պահանջները.

WaferEye810 բրոշյուր

Տեխնիկական պայմաններ
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Ստուգման վաֆլի տեսակը:Վաֆլի Ապակի Ենթաշերտ
Ստուգման վաֆլի չափը: ≦8-դյույմ վաֆլի
Ստուգման թերություններ:Վաֆլի:Քորում,Չիփինգ,Ճաք；ՊԱԴ:Գունաթափում,Աղտոտվածություն,Դեֆորմացիա
Հայտնաբերման չափ:10 x 10 um(Min.)
Ստուգման լույսի աղբյուր:LED
Պատկերների նկարահանման սարք:Line Scan Camera
Բանաձեւ:2.8 մ/պիքսել
Տակտի ժամանակ:500 վրկ./հատ(8-դյույմ)
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Ստուգման սարքավորումներ:WaferEye810
Ստուգման Ծրագրեր:Թերությունների ստուգման համակարգ
Սարքավորման չափերը:170 x 130 x 220 սմ
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------