Kiekon pintavikojen tarkastus

AOI:n automaattinen optinen tarkastus

WaferEye810,suunniteltu 8-tuumaisia kiekkoja,on edistyksellinen järjestelmä, joka on omistettu kiekkojen pintavirheiden tarkkaan havaitsemiseen,varmistaen korkean-laatutarkastus.Leikkauksen integroinnin kautta-reunaoptiset järjestelmät ja kehittyneet kuvankäsittelytekniikat,tämä järjestelmä on erinomainen havaitsemaan niinkin pieniä pintavirheitä kuin 10 x 10&mikro;m kooltaan,mukaan lukien naarmut,katkenneita,halkeamia,epänormaalit PADit,ja enemmän.Älykäs ohjelmisto mahdollistaa todellisen-aikakuvan näyttö ja vikaanalyysi,dokumentoi automaattisesti epänormaalien stanssauslastujen koordinaatit sekä vian yksityiskohdat.Tämä estää viallisten muottilastujen etenemisen seuraavaan prosessiin,vähentää tehokkaasti tuotantokustannusten riskiä.
Systeemi’s joustavuus ulottuu räätälöintiin,asiakkaan erityistarpeiden huomioon ottaminen tarkastusprojekteja varten.Se mahdollistaa parametrien saumattoman säätämisen ainutlaatuisia prosesseja ja tuotevaatimuksia varten,varmistaa perusteellisen tarkastuksen ja paremman havaitsemisasteen.Räätälöityjen projektien valinta tarjoaa räätälöidyn ratkaisun,viime kädessä nostaa tuotannon tehokkuutta.
WaferEye810-tarkastusjärjestelmämme valitseminen merkitsee sitoutumista sekä korkeaan laatuun että tehokkuuteen.Antaa’s tekevät yhteistyötä näyttääkseen tietä AOI-tarkastusten uuden aikakauden edelläkävijänä!

ominaisuudet

• Käyttää Line Scan -tunnistusmenetelmää,tukee jopa 8 tuuman kokoisia kiekkoja
• Varustettu korkealla-päätöslauselma 2.8&mikro;m kamera, joka tallentaa selkeästi kiekkojen pintavirheet.
• Havaitsee viat, joiden vähimmäiskoko on noin 10 x 10&mikro;m.
• Pystyy tarkastamaan pintavirheet ennen kiekon leikkaamista ja sen jälkeen.
• Pystyy havaitsemaan viat kiekon pinnassa ja kiinnitystyynyissä(PAD),myöhemmän vikaanalyysin kanssa.
• Mukautuva eri toimialojen vaatimuksiin,mahdollistaa tarkastusosien vaihtamisen tai lisäämisen.
• Varustettu korkealla-suorituskykyinen tietokone ja kosketusnäyttö,takaavat kätevän toiminnan ja todellisen-aika kuvan tarkastus.
• Intuitiivinen älykäs ohjelmisto parantaa toiminnan tehokkuutta ja ylläpitoa.
• Tukee offline-tarkastusta,tarjoaa joustavuutta eri tuotantolinjojen vaatimuksiin.

WaferEye810 -esite

Tekniset tiedot
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Tarkastuskiekkotyyppi:Wafer Glass Substraatti
Tarkastuskiekon koko: ≦8-tuumainen kiekko
Tarkastusvirheet:Vohveli:Naarmu,Chipaaminen,Crack；PAD:Värinmuutos,Saastuminen,Muodonmuutos
Tunnistuksen koko:10 x 10 um(Min.)
Tarkastusvalon lähde:LED
Kuvanottolaite:Linjaskannauskamera
Resoluutio:2.8 um/pikseli
Tact Time:500 sek./kpl(8-tuumaa)
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Tarkastuslaitteet:WaferEye810
Tarkastusohjelmisto:Viantarkastusjärjestelmä
Laitteen mitat:170 x 130 x 220 cm
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------