English
Français
Deutsch
Русский
Português
Italiano
हिन्दी
Español
Nederlandse
العربية
Tiếng Việt
ภาษาไทย
Bahasa Indonesia
বাঙ্গালী
Türk
繁體中文Інспекцыя СК
Microtek International, Inc. з'яўляецца вядучым вытворцам, пастаўшчыком і экспарцёрам Інспекцыя СК in Taiwan які мае высокую якасць і розныя колеру. Для таго, каб забяспечыць іх больш тэрмін службы і якасць мы вырабляем гэтыя прадукты з выкарыстаннем вышэйшага гатунку сыравіны ў адпаведнасці з міжнароднымі стандартамі якасці. Мы прапануем гэтыя прадукты ў галіны цэн робіць іх надзвычай папулярнымі сярод нашых кліентаў. Калі вы зацікаўлены ў любых стылях нашых прадуктах, калі ласка звязацца з намі.
Калі вы зацікаўлены ў любым з нашых
Інспекцыя СК
прадукты ці хацелі б disscuss заказ кліента, калі ласка, звяжыцеся з намі. Мы з нецярпеннем чакаем фарміравання паспяховых дзелавых адносін з новым кліентам па ўсім свеце ў найбліжэйшай будучыні.
Інспекцыя СК
мадэль - 10-3,IC Flaw Inspection System
Сістэма кантролю дэфектаў IC
Анатацыя
Не-Кантактная фіксацыя выявы можа быць выкарыстана для праверкі вялікіх аб'ёмаў чыпаў за адзін раз.
Уводзіны
Мікрасхемы мікрасхем невялікія па памеры,далікатная па структуры,і буйны па вытворчасці;таму,існуюць патрэбы ў дакладных і эфектыўных інструментах, каб дапамагчы ў праверцы якасці.Рашэнне для праверкі дэфектаў вонкавага выгляду IC - гэта выкарыстанне не-кантактны сканер аб'ектаў,эксклюзіўна распрацаваны Microtek,для атрымання малюнкаў мікрасхем,эфектыўна пазбягаючы памылковых меркаванняў, выкліканых пашкоджаннем мікрасхем.Сканер аб'ектаў здольны фіксаваць вялікія-маштабаваць выявы і, такім чынам, ён можа хутка апрацоўваць вялікія аб'ёмы чыпаў за адзін раз,эфектыўна скараціць час праверкі.
Выкарыстанне разам з MiQC-IC,сістэма кантролю і кіравання дэфектамі,залаты ўзор можа быць лёгка выбраны аператарам.Плюс,перадавыя тэхналогіі ў выкарыстанні,дэфектную вобласць можна знайсці і дакладна адзначыць.Пасля таго, як выявы з дэфектамі былі загружаныя ў сістэму кіравання,карыстальнікі могуць хутка знайсці тое, што яны шукаюць, з тонаў дадзеных, выкарыстоўваючы імёны файлаў,даты загрузкі або інфармацыя аб дэфектах,павышэнне эфектыўнасці і эфектыўнасці кіравання.
Асаблівасці
Тэхнічныя характарыстыкі
Вобласць сканавання：52 х 38 см
Працоўная дыстанцыя：7 см
Раздзяленне сканавання：20&му;м
Тып датчыка выявы：Каляровая лінейная ПЗС
Анатацыя
Не-Кантактная фіксацыя выявы можа быць выкарыстана для праверкі вялікіх аб'ёмаў чыпаў за адзін раз.
Уводзіны
Мікрасхемы мікрасхем невялікія па памеры,далікатная па структуры,і буйны па вытворчасці;таму,існуюць патрэбы ў дакладных і эфектыўных інструментах, каб дапамагчы ў праверцы якасці.Рашэнне для праверкі дэфектаў вонкавага выгляду IC - гэта выкарыстанне не-кантактны сканер аб'ектаў,эксклюзіўна распрацаваны Microtek,для атрымання малюнкаў мікрасхем,эфектыўна пазбягаючы памылковых меркаванняў, выкліканых пашкоджаннем мікрасхем.Сканер аб'ектаў здольны фіксаваць вялікія-маштабаваць выявы і, такім чынам, ён можа хутка апрацоўваць вялікія аб'ёмы чыпаў за адзін раз,эфектыўна скараціць час праверкі.
Выкарыстанне разам з MiQC-IC,сістэма кантролю і кіравання дэфектамі,залаты ўзор можа быць лёгка выбраны аператарам.Плюс,перадавыя тэхналогіі ў выкарыстанні,дэфектную вобласць можна знайсці і дакладна адзначыць.Пасля таго, як выявы з дэфектамі былі загружаныя ў сістэму кіравання,карыстальнікі могуць хутка знайсці тое, што яны шукаюць, з тонаў дадзеных, выкарыстоўваючы імёны файлаў,даты загрузкі або інфармацыя аб дэфектах,павышэнне эфектыўнасці і эфектыўнасці кіравання.
Асаблівасці
- Не-Кантактны захоп малюнкаў забяспечвае паўнату адсканаваных аб'ектаў
- Захоп вялікага-маштабнае малюнак павышае эфектыўнасць працы для вялікіх аб'ёмаў чыпсаў
- Падтрымлівае сканаванне малюнкаў розных мікрасхем
- Здольны выбраць залаты ўзор ўручную;тады,сістэма пазначае пазіцыі для ўсіх чыпаў і аўтаматычна пачне параўнанне дэфектаў
- Здольны выконваць разумны пошук з выкарыстаннем няцотных лікаў,агляд прадметаў,або кропкавае чытанне
- Магчымасць наладжваць катэгорыі дэфектаў і выконваць пэўны пошук з дапамогай дэфектных элементаў або дат загрузкі
- Выключна-распрацаванае праграмнае забеспячэнне для праверкі можна наладзіць для выкарыстання на ПК і ў Інтэрнэце
Тэхнічныя характарыстыкі
Вобласць сканавання：52 х 38 см
Працоўная дыстанцыя：7 см
Раздзяленне сканавання：20&му;м
Тып датчыка выявы：Каляровая лінейная ПЗС
Microtek International, Inc.
10-3,IC Flaw Inspection System
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/be/ic-inspection.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
100user ratings
Enquiry Now
прадукцыя спіс
Microtek International, Inc.
Каб знайсці і набыць лепшае Інспекцыя СК, вам трэба ведаць пра найвышэйшую якасць вытворцы, пастаўшчыка, аптавіка, дыстрыб'ютара з завода ў Taiwan
10-1,2D Barcode Inspection Solution
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/barcode-inspection-system.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
100user ratings
Microtek International, Inc.
Каб знайсці і набыць лепшае Інспекцыя СК, вам трэба ведаць пра найвышэйшую якасць вытворцы, пастаўшчыка, аптавіка, дыстрыб'ютара з завода ў Taiwan
10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/textile-inspection-system.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
100user ratings
Microtek International, Inc.
Каб знайсці і набыць лепшае Інспекцыя СК, вам трэба ведаць пра найвышэйшую якасць вытворцы, пастаўшчыка, аптавіка, дыстрыб'ютара з завода ў Taiwan
10-4,FAI-630
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/defect-inspection-system.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
100user ratings
Microtek International, Inc.
Каб знайсці і набыць лепшае Інспекцыя СК, вам трэба ведаць пра найвышэйшую якасць вытворцы, пастаўшчыка, аптавіка, дыстрыб'ютара з завода ў Taiwan
10-5,LT-050
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/defect-detection-system.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
100user ratings
Microtek International, Inc.
Каб знайсці і набыць лепшае Інспекцыя СК, вам трэба ведаць пра найвышэйшую якасць вытворцы, пастаўшчыка, аптавіка, дыстрыб'ютара з завода ў Taiwan
10-6,WaferEye 810
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/surface-defect-inspection.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
100user ratings