Inspección de defectos en la superficie de la oble

Inspección óptica automática AOI

obleaeye810,diseñado para 8-obleas de pulgadas,es un sistema avanzado dedicado a la detección precisa de defectos superficiales en obleas,asegurando alto-inspeccion de calidad.A través de la integración del corte-Sistemas ópticos de vanguardia y técnicas avanzadas de procesamiento de imágenes.,este sistema destaca en la detección de defectos superficiales tan pequeños como 10 x 10µm de tamaño,incluyendo rayones,roturas,grietas,PAD anormales,y más.El software inteligente permite real-Visualización de imágenes en tiempo y análisis de defectos.,Documentar automáticamente las coordenadas de chips de troquel anormales junto con detalles de defectos..Esto evita que los chips defectuosos avancen al siguiente proceso.,Reducir eficazmente el riesgo de costes de producción..
El sistema’La flexibilidad se extiende a la personalización.,Satisfacer las necesidades específicas del cliente para proyectos de inspección..Permite un ajuste perfecto de los parámetros para procesos y requisitos de productos únicos.,Garantizar una inspección exhaustiva y tasas de detección mejoradas..Optar por proyectos personalizados proporciona una solución a medida,en última instancia, elevando la eficiencia de la producción.
Elegir nuestro sistema de inspección WaferEye810 significa un compromiso con la alta calidad y la eficiencia..Dejar’Colaboramos para liderar el camino al ser pioneros en una nueva era de inspección AOI.!

Características

• Utiliza el método de detección Line Scan,Soporta obleas de hasta 8 pulgadas de tamaño.
• Equipado con un alto-resolución 2.8µCámara m para una captura clara de defectos superficiales en obleas.
• Detecta defectos con un tamaño mínimo de alrededor de 10 x 10µmetro.
• Capaz de inspeccionar defectos superficiales antes y después del corte de obleas..
• Capaz de detectar defectos en la superficie de la oblea y en las almohadillas de unión(ALMOHADILLA),con posterior análisis de defectos.
• Adaptable a diferentes requisitos de la industria,Permitir el reemplazo o adición de elementos de inspección..
• Equipado con un alto-Computadora de alto rendimiento y pantalla táctil.,asegurando un funcionamiento cómodo y real-inspección de imagen de tiempo.
• El software inteligente e intuitivo mejora la eficiencia operativa y el mantenimiento.
• Admite inspección fuera de línea,Proporcionar flexibilidad para satisfacer las demandas de varias líneas de producción..

Folleto de WaferEye810

Especificaciones
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Tipo de oblea de inspección:Sustrato de vidrio tipo oblea
Tamaño de la oblea de inspección: ≦8-oblea de pulgadas
Defectos de inspección:Oblea:Rascar,astillado,Grieta；ALMOHADILLA:Descoloramiento,Contaminación,Deformación
Tamaño de detección:10 x 10 micras(mín..)
Fuente de luz de inspección:CONDUJO
Dispositivo de captura de imágenes:Cámara de escaneo de línea
Resolución:2.8 mi/píxel
Tiempo de tacto:500 segundos./piezas(8-pulgada)
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Equipo de inspección:obleaeye810
Software de inspección:Sistema de inspección de defectos
Dimensiones del equipo:170x130x220cm
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