Inspección De IC

Microtek International, Inc. es uno de los mayores fabricantes de Inspección De IC in Taiwan. Exportamos nuestros productos todos del mundo, y disfrutamos de una buena reputación por su calidad estupenda y el mejor precio. El suministro de productos nuevos y de alta calidad para nuestro cliente es el objetivo de nuestra empresa. Si usted está interesado en cualesquiera estilos de nuestros productos, no dude en Contáctenos.
Equipado con instalaciones de gama alta y un

Inspección De IC

altamente cualificado y la experiencia profesional de la empresa se desarrolla para ofrecer la mejor calidad al precio más asequible. De cara al futuro, nos comprometemos a dar lo mejor en términos de valor y satisfacción del cliente.
  • Inspección De IC - 10-3,IC Flaw Inspection System
Inspección De IC
Modelo - 10-3,IC Flaw Inspection System
Sistema de inspección de fallas IC

Abstracto
No-La captura de imágenes de contacto se puede utilizar para inspeccionar grandes volúmenes de chips a la vez..

Introducción
Los chips IC son de tamaño pequeño,delicada en estructura,y grande en producción;por lo tanto,existen necesidades de herramientas precisas y eficientes para ayudar en la inspección de calidad.La solución de inspección de defectos de apariencia de CI es mediante el uso de un-escáner de objetos de contacto,diseñado exclusivamente por Microtek,para capturar imágenes de chips IC,evitando eficazmente los errores de juicio causados por el daño de los chips IC.El escáner de objetos es capaz de capturar grandes-escalar tamaños de imágenes y, por lo tanto, puede manejar grandes volúmenes de chips rápidamente a la vez,acortar el tiempo de inspección de forma eficaz.
Usar junto con el MiQC-IC,un sistema de inspección y gestión de defectos,un operador puede seleccionar fácilmente una muestra dorada.Más,tecnología avanzada en uso,el área defectuosa se puede encontrar y marcar con precisión.Después de que las imágenes con defectos se hayan cargado al sistema de gestión,los usuarios pueden encontrar lo que buscan a partir de tonos de datos rápidamente mediante el uso de nombres de archivo,cargando fechas o información de defectos,mejorando la gestión más eficaz y eficiente.

Características
  • No-La captura de imágenes por contacto garantiza la integridad de los objetos escaneados.
  • Captura de una gran-La imagen de escala mejora la eficiencia del trabajo para grandes volúmenes de chips.
  • Admite el escaneo de imágenes de varios chips IC
  • Capaz de seleccionar una muestra dorada manualmente;entonces,el sistema marcará posiciones para todos los chips y comenzará las comparaciones de defectos automáticamente
  • Capaz de realizar una búsqueda inteligente mediante el uso de números impares,inspeccionar artículos,o lectura puntual
  • Capaz de configurar categorías de defectos y realizar una búsqueda específica utilizando artículos defectuosos o cargando fechas
  • Exclusivamente-El software de inspección diseñado se puede configurar para su uso en PC y en la web.
Folleto de AOI

Especificaciones
Área de escaneo:52 x 38 cm
Distancia de trabajo:7 cm
Resolución de escaneo:20μmetro
Tipo de sensor de imagen:CCD lineal de color
Microtek International, Inc.
10-3,IC Flaw Inspection System
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10-1,2D Barcode Inspection Solution
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10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
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10-4,FAI-630
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10-5,LT-050
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10-6,WaferEye 810
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