Агляд дэфектаў паверхні пласцін

Аўтаматычная аптычная праверка AOI

WaferEye810,прызначаны для 8-цалевыя пласціны,гэта ўдасканаленая сістэма, прысвечаная дакладнаму выяўленню паверхневых дэфектаў на пласцінах,забеспячэнне выс-праверка якасці.Дзякуючы інтэграцыі рэзкі-кантавыя аптычныя сістэмы і перадавыя метады апрацоўкі малюнкаў,гэтая сістэма выдатна спраўляецца з выяўленнем дэфектаў паверхні памерам ад 10 х 10&мікра;м памерам,уключаючы драпіны,паломкі,расколіны,анамальныя PAD,і больш.Інтэлектуальнае праграмнае забеспячэнне дазваляе рэальным-адлюстраванне выявы часу і аналіз дэфектаў,аўтаматычнае дакументаванне каардынатаў ненармальных чыпаў штампа разам з дэталямі дэфектаў.Гэта прадухіляе пераход дэфектных чыпаў да наступнага працэсу,эфектыўнае зніжэнне рызыкі вытворчых выдаткаў.
Сістэма’гнуткасць распаўсюджваецца на наладу,задавальнення канкрэтных патрэб кліентаў для інспекцыйных праектаў.Гэта дазваляе плаўна наладжваць параметры для унікальных працэсаў і патрабаванняў да прадукцыі,забеспячэнне дбайнай праверкі і павышэнне ўзроўню выяўлення.Выбар індывідуальных праектаў забяспечвае індывідуальнае рашэнне,у канчатковым выніку павышэнне эфектыўнасці вытворчасці.
Выбар нашай сістэмы кантролю WaferEye810 азначае прыхільнасць да высокай якасці і эфектыўнасці.Хай’Мы супрацоўнічаем, каб стаць ініцыятарам новай эры праверкі AOI!

Асаблівасці

• Выкарыстоўвае метад выяўлення радковага сканавання,падтрымлівае пласціны памерам да 8 цаляў
• Абсталяваны выш-рэзалюцыя 2.8&мікра;м для выразнай фіксацыі дэфектаў паверхні пласцін.
• Выяўляе дэфекты мінімальнага памеру каля 10 х 10&мікра;м.
• Магчымасць праверкі дэфектаў паверхні да і пасля рэзкі пласцін.
• Здольны выяўляць дэфекты на паверхні пласціны і клеючых пляцоўках(ПАД),з наступным аналізам дэфектаў.
• Адаптуецца да розных галіновых патрабаванняў,дазвол на замену або даданне элементаў праверкі.
• Абсталяваны выш-прадукцыйны кампутар і сэнсарны экран,забеспячэнне зручнай эксплуатацыі і рэал-праверка выявы часу.
• Інтуітыўна зразумелае інтэлектуальнае праграмнае забеспячэнне павышае эфектыўнасць працы і абслугоўвання.
• Падтрымлівае праверку ў аўтаномным рэжыме,забяспечваючы гнуткасць для задавальнення патрабаванняў розных вытворчых ліній.

Брашура WaferEye810

Тэхнічныя характарыстыкі
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Інспекцыя вафельнага тыпу:Вафельная шкляная падкладка
Праверка памеру пласціны: ≦8-цалевая пласціна
Дэфекты агляду:Вафельны:Драпіна,Сколванне,Крэк；ПАД:Змена колеру,Заражэнне,дэфармацыя
Памер выяўлення:10 х 10 мкм(Мін.)
Інспекцыйная крыніца святла:святлодыёд
Прылада захопу выявы:Камера лінейнага сканавання
дазвол:2.8 мкм/піксель
Такт Час:500 сек./шт(8-цаля)
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Інспекцыйнае абсталяванне:WaferEye810
Праграму для праверкі:Сістэма праверкі дэфектаў
Памеры абсталявання:170 х 130 х 220 см
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------