English
Français
Deutsch
Русский
Português
Italiano
हिन्दी
Español
Nederlandse
العربية
Tiếng Việt
ภาษาไทย
Bahasa Indonesia
বাঙ্গালী
Türk
繁體中文Defektide kontrollimise süsteem
Oleme tehniline Taiwan Defektide kontrollimise süsteem tootja, tehas tarnija ja eksportija. Sõltuvalt stabiilne investeerimiskeskkond, superior pädevus ja hea müügijärgne teenindus, oleme teinud meist üks juhtivaid tootjad ja eksportijad valdkonnas. Lubame kvaliteediga tooteid ja konkurentsivõimelise hinnaga ja õigeaegne kohaletoimetamine teile. Meil on luua pikaajaline äri klientidele. Kui olete huvitatud ükskõik mudel meie tooted, siis võib vabalt võtke meiega ühendust.
Defektide kontrollimise süsteem
mudel - 10-4,FAI-630
Skaneerimise ja kontrollimise moodul
Sissejuhatus
FAI-630 on mitte-kontaktvärvi lineaarse pildi jäädvustamise moodul,mida sobib kasutada koos erinevate konveieritega, et püüda suuri-pilte täpselt mõõta.Resolutsioon on kuni 20μm,skannimisala on kuni 12 x 24 tolli ja töökaugus kuni 2.5 cm,FAI-630 töötab kõige paremini FAI või tuvastamise jaoks,PWBA piltide võrdlemine ja kontrollimine enne joodise kleepimist.FAI töökaugus-630 saab kohandada vastavalt klientidele’nõudmisi.
Funktsioonid
Tehnilised andmed
Skaneerimisala：12”x 24”
Töökaugus：2.5 cm
Skannimise eraldusvõime：20μm
Pildianduri tüüp：Värviline lineaarne CCD
Sissejuhatus
FAI-630 on mitte-kontaktvärvi lineaarse pildi jäädvustamise moodul,mida sobib kasutada koos erinevate konveieritega, et püüda suuri-pilte täpselt mõõta.Resolutsioon on kuni 20μm,skannimisala on kuni 12 x 24 tolli ja töökaugus kuni 2.5 cm,FAI-630 töötab kõige paremini FAI või tuvastamise jaoks,PWBA piltide võrdlemine ja kontrollimine enne joodise kleepimist.FAI töökaugus-630 saab kohandada vastavalt klientidele’nõudmisi.
Funktsioonid
- Mitte-kontakti kujutise jäädvustamise tehnoloogia tagab skannitud sihtmärkide täielikkuse
- Kasutades koos erinevate nurkade valgusega skaneeritud sihtmärkide kujutiste jäädvustamiseks, kuvatakse selgelt erinevate materjalide omadused
Tehnilised andmed
Skaneerimisala：12”x 24”
Töökaugus：2.5 cm
Skannimise eraldusvõime：20μm
Pildianduri tüüp：Värviline lineaarne CCD
Meie teadmised ei võimaldaks meil tagada parimat
Defektide kontrollimise süsteem
allutades meie toodete range kvaliteedikontrolli meetmed ajal igas tootmis-ja samas lähetamist. Me hoiame kõik asjakohased sõpru üle kogu maailma tulla külastus ja koostööd!Enquiry Now
tooted nimekiri
Microtek International, Inc.
Defektide kontrollimise süsteem tootja ja Defektide kontrollimise süsteem tarnija ka tehase hulgimüüja turustaja - üle 31,681 ostjaid kogu maailmas bestimagescanner.com
10-1,2D Barcode Inspection Solution
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/barcode-inspection-system.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
100user ratings
Microtek International, Inc.
Defektide kontrollimise süsteem tootja ja Defektide kontrollimise süsteem tarnija ka tehase hulgimüüja turustaja - üle 31,681 ostjaid kogu maailmas bestimagescanner.com
10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/textile-inspection-system.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
100user ratings
Microtek International, Inc.
Defektide kontrollimise süsteem tootja ja Defektide kontrollimise süsteem tarnija ka tehase hulgimüüja turustaja - üle 31,681 ostjaid kogu maailmas bestimagescanner.com
10-3,IC Flaw Inspection System
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/ic-inspection.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
100user ratings
Microtek International, Inc.
Defektide kontrollimise süsteem tootja ja Defektide kontrollimise süsteem tarnija ka tehase hulgimüüja turustaja - üle 31,681 ostjaid kogu maailmas bestimagescanner.com
10-5,LT-050
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/defect-detection-system.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
100user ratings
Microtek International, Inc.
Defektide kontrollimise süsteem tootja ja Defektide kontrollimise süsteem tarnija ka tehase hulgimüüja turustaja - üle 31,681 ostjaid kogu maailmas bestimagescanner.com
10-6,WaferEye 810
none
999999999
http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/surface-defect-inspection.html
Microtek International, Inc.
90out of
100based on
100user ratings