欠陥検査システム

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欠陥検査システム

プロンプトが表示さに裏打ちされ、慎重アフターサービス。
  • 欠陥検査システム - 10-4,FAI-630
欠陥検査システム
型番 - 10-4,FAI-630
スキャンおよび検査モジュール

序章
FAI-630は非-接触色線形画像キャプチャモジュール,大型コンベアをキャプチャするためにさまざまなコンベヤと一緒に使用するのに適しています-画像を正確に拡大縮小する.解像度は最大20です&ムー;m,スキャン領域は最大12x 24インチで、作動距離は最大2です。.5cm,FAI-630はFAIまたは識別に最適です,はんだを貼り付ける前のPWBAの画像の比較と検査.FAIの作動距離-630はお客様に合わせてカスタマイズできます’要求.

特徴
  • 非-接触画像キャプチャ技術は、スキャンされたターゲットの完全性を保証します
  • スキャンされたターゲットの画像をキャプチャするためにさまざまな角度の光と一緒に使用すると、さまざまな材料の特性が明確に示されます
AOIパンフレット

仕様
スキャンエリア:12”x 24”
作動距離:2.5cm
スキャン解像度:20&ムー;m
イメージセンサータイプ:カラーリニアCCD
Microtek International, Inc.
10-4,FAI-630
none
999999999 http://schema.org/InStock USD 2020-12-31
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Microtek International, Inc.
欠陥検査システム メーカーと欠陥検査システム また、サプライヤー工場卸売業者の代理店-で、世界中の68,722バイヤー以上bestimagescanner.com
10-1,2D Barcode Inspection Solution
none
999999999 http://schema.org/InStock USD 2020-12-31
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Microtek International, Inc.
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10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
none
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Microtek International, Inc.
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10-3,IC Flaw Inspection System
none
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10-5,LT-050
none
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10-6,WaferEye 810
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