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繁體中文Système D'inspection Des Défauts
Microtek International, Inc. se spécialise à la fabrication, fournissant et exportant le Système D'inspection Des Défauts, une usine en Taiwan.C\'a toujours été notre foyer pour fabriquer le produits qualité et pour le livrer à l\'heure avec le service après-vente attentif.Notre esprit innovateur nous permet de devancer nos concurrents en fournissant l\'éventail de produits.
Notre expertise a pour nous permettre d\'assurer le
Système D'inspection Des Défauts
en soumettant notre produits mesures rigoureuses de contrôle de qualité pendant chaque étape de production et tandis qu\'expédition.Nous souhaitons la bienvenue sincèrement à tous les amis appropriés partout dans le monde pour venir pour la visite et la coopération!
Système D'inspection Des Défauts
Modèle - 10-4,FAI-630
Module de numérisation et d'inspection
introduction
FAI-630 est un non-module de capture d'image linéaire couleur de contact,qui convient à l'utilisation avec divers convoyeurs afin de capturer de grandes-redimensionner les images avec précision.Avec la résolution est jusqu'à 20μm,la zone de numérisation est jusqu'à 12 x 24 pouces et la distance de travail est jusqu'à 2.5 cm,FAI-630 fonctionne mieux pour FAI ou identification,comparer et inspecter les images de PWBA avant de coller la soudure.La distance de travail du FAI-630 peut être personnalisé selon les clients’demandes.
Caractéristiques
Caractéristiques
Zone de numérisation：12”x 24”
Distance de travail：2.5 cm
Résolution de numérisation：20μm
Type de capteur d'image：CCD linéaire couleur
introduction
FAI-630 est un non-module de capture d'image linéaire couleur de contact,qui convient à l'utilisation avec divers convoyeurs afin de capturer de grandes-redimensionner les images avec précision.Avec la résolution est jusqu'à 20μm,la zone de numérisation est jusqu'à 12 x 24 pouces et la distance de travail est jusqu'à 2.5 cm,FAI-630 fonctionne mieux pour FAI ou identification,comparer et inspecter les images de PWBA avant de coller la soudure.La distance de travail du FAI-630 peut être personnalisé selon les clients’demandes.
Caractéristiques
- Non-la technologie de capture d'images par contact garantit l'intégralité des cibles numérisées
- L'utilisation avec différents angles de lumière pour capturer des images de cibles numérisées présente clairement les caractéristiques de différents matériaux
Caractéristiques
Zone de numérisation：12”x 24”
Distance de travail：2.5 cm
Résolution de numérisation：20μm
Type de capteur d'image：CCD linéaire couleur
Microtek International, Inc.
10-4,FAI-630
none
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http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/fr/defect-inspection-system.html
Microtek International, Inc.
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Produits Liste
Microtek International, Inc.
Système D'inspection Des Défauts fabricant et Système D'inspection Des Défauts fournisseur aussi ,vente en gros,distributeurs,OEM,ODM-sur 9,706 acheteurs du monde entier à bestimagescanner.com
10-1,2D Barcode Inspection Solution
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Système D'inspection Des Défauts fabricant et Système D'inspection Des Défauts fournisseur aussi ,vente en gros,distributeurs,OEM,ODM-sur 9,706 acheteurs du monde entier à bestimagescanner.com
10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
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2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/textile-inspection-system.html
Microtek International, Inc.
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Système D'inspection Des Défauts fabricant et Système D'inspection Des Défauts fournisseur aussi ,vente en gros,distributeurs,OEM,ODM-sur 9,706 acheteurs du monde entier à bestimagescanner.com
10-3,IC Flaw Inspection System
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Microtek International, Inc.
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Système D'inspection Des Défauts fabricant et Système D'inspection Des Défauts fournisseur aussi ,vente en gros,distributeurs,OEM,ODM-sur 9,706 acheteurs du monde entier à bestimagescanner.com
10-5,LT-050
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2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/defect-detection-system.html
Microtek International, Inc.
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Système D'inspection Des Défauts fabricant et Système D'inspection Des Défauts fournisseur aussi ,vente en gros,distributeurs,OEM,ODM-sur 9,706 acheteurs du monde entier à bestimagescanner.com
10-6,WaferEye 810
none
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http://schema.org/InStock
USD
2020-12-31
https://www.bestimagescanner.com/surface-defect-inspection.html
Microtek International, Inc.
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