掃描檢測系統

專門製造,供應和出口掃描檢測系統,工廠位於台灣。客戶的滿意度由產品的質量和我們的承諾決定。我們一向專注於製造高品質產品,按時交貨並提供優質的售後服務。我們具有創新精神,配備最先進的生產檢測設備來製造各類產品。歡迎來自全球的批發商,分銷商,採購商,代理商和產品OEM/ODM來函來電垂詢。
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掃描檢測系統

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  • 掃描檢測系統 - 10-4,FAI-630
掃描檢測系統
型號 - 10-4,FAI-630
檢測掃描模組

簡介
FAI-630 為非接觸式的彩色線型影像擷取模組,適合搭配各式的物件輸送型態精準擷取大範圍的影像,掃描解析度達 20 μm,掃描範圍達12 x 24 英吋,掃描工作距離可達 2.5 cm,適合進行 PWBA 爐前影像的識別、比對、瑕疵檢測及首件檢查,掃描長度可依客製化設計變更。

產品特色
  • 非接觸式影像擷取確保掃描物件不被破壞
  • 搭配不同角度光源擷取不同材質的物件影像 ,清楚呈現材料特徵
  • 適合架設在不同型態的輸送機構上
  • 影像資訊豐富,適合瑕疵檢測、影像識別等AOI應用
AOI 型錄

產品規格
掃描範圍: 12” x 24”
工作距離: 2.5 cm
掃描解析度: 20 μm
影像感應元件: Color linear CCD
全友電腦股份有限公司
10-4,FAI-630
none
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10-2,Non-Woven Fabric Surface Defect Inspection Solution
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10-3,IC Flaw Inspection System
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10-5,LT-050
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10-6,WaferEye 810
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