IC Denetimi

IC Kusur Kontrol Sistemi

Soyut
Olmayan-temaslı görüntü yakalama, aynı anda büyük hacimli çipleri incelemek için kullanılabilir.

Tanıtım
IC çiplerinin boyutu küçüktür,yapısı hassas,ve üretimde büyük;Öyleyse,kalite denetimine yardımcı olacak doğru ve verimli araçlara ihtiyaç vardır.IC görünümlerinin Kusurları için İnceleme Çözümü,-iletişim nesnesi tarayıcı,Microtek tarafından özel olarak tasarlanmıştır,IC çiplerinin görüntülerini yakalamak için,IC yongalarının zarar görmesinden kaynaklanan yanlış yargılardan etkili bir şekilde kaçınma.Nesne tarayıcı, büyük-görüntülerin boyutlarını ölçeklendirir ve böylece büyük hacimli çipleri tek seferde hızlı bir şekilde işleyebilir,teftiş süresini etkili bir şekilde kısaltmak.
MiQC ile birlikte kullanma-IC,bir kusur inceleme ve yönetim sistemi,bir altın numune bir operatör tarafından kolayca seçilebilir.Artı,kullanılan ileri teknoloji,kusurlu alan tam olarak bulunabilir ve işaretlenebilir.Hatalı görüntüler yönetim sistemine yüklendikten sonra,kullanıcılar dosya adlarını kullanarak tonlarca veriden aradıklarını hızlı bir şekilde bulabilirler.,tarihleri veya kusur bilgilerini yükleme,yönetimin daha etkin ve verimli hale getirilmesi.

Özellikleri

• Olmayan-görüntülerin temasla yakalanması, taranan nesnelerin eksiksiz olmasını sağlar
• Büyük bir yakalama-ölçekli görüntü, büyük hacimli çipler için iş verimliliğini artırır
• Çeşitli IC yongalarının görüntü taramasını destekler
• Altın numuneyi manuel olarak seçebilme;sonra,sistem tüm çipler için konumları işaretler ve otomatik olarak kusur karşılaştırmalarını başlatır
• Tek sayıları kullanarak Akıllı Arama yapabilme,öğeleri incelemek,veya nokta okuma
• Kusur kategorileri oluşturabilme ve kusur öğelerini veya yükleme tarihlerini kullanarak belirli bir arama yapabilme
• Münhasıran-PC'de ve web'de kullanılmak üzere tasarlanmış denetim yazılımı ayarlanabilir

AOI Broşürü

Özellikler
Tarama Alanı：52x38 cm
Çalışma Mesafesi：7 cm
Tarama Çözünürlüğü：20&mü;m
Görüntü Sensörü Tipi：Renkli doğrusal CCD