আইসি পরিদর্শন

আইসি ত্রুটি পরিদর্শন সিস্টেম

বিমূর্ত
অ-কন্টাক্ট ইমেজ ক্যাপচারিং এক সময়ে চিপগুলির বড় ভলিউম পরিদর্শনের জন্য ব্যবহার করা যেতে পারে.

ভূমিকা
আইসি চিপ আকারে ছোট,গঠনে সূক্ষ্ম,এবং উৎপাদনে বড়;তাই,গুণমান পরিদর্শনে সহায়তা করার জন্য সঠিক এবং দক্ষ সরঞ্জামগুলির প্রয়োজন রয়েছে.আইসি উপস্থিতির ত্রুটির জন্য পরিদর্শন সমাধান একটি অ ব্যবহার করে হয়-যোগাযোগ অবজেক্ট স্ক্যানার,একচেটিয়াভাবে Microtek দ্বারা ডিজাইন করা হয়েছে,আইসি চিপ এর ছবি ক্যাপচার করতে,কার্যকরভাবে আইসি চিপগুলির ক্ষতির কারণে ভুল ধারণা এড়ানো.অবজেক্ট স্ক্যানার বড় ক্যাপচার করতে সক্ষম-ইমেজ মাপ মাপ এবং এইভাবে এটি একটি সময়ে দ্রুত চিপ বড় ভলিউম পরিচালনা করতে পারে,কার্যকরভাবে পরিদর্শন সময় সংক্ষিপ্ত করা.
MiQC এর সাথে একসাথে ব্যবহার করা-আইসি,একটি ত্রুটি পরিদর্শন এবং ব্যবস্থাপনা সিস্টেম,একটি সুবর্ণ নমুনা সহজেই একটি অপারেটর দ্বারা নির্বাচন করা যেতে পারে.প্লাস,ব্যবহারে উন্নত প্রযুক্তি,ত্রুটিপূর্ণ এলাকা খুঁজে পাওয়া যাবে এবং অবিকল চিহ্নিত করা যাবে.ত্রুটিযুক্ত ছবিগুলি পরিচালনা সিস্টেমে আপলোড করার পরে,ব্যবহারকারীরা ফাইলের নাম ব্যবহার করে দ্রুত ডেটার টোন থেকে যা খুঁজছেন তা খুঁজে পেতে পারেন,তারিখ বা ত্রুটির তথ্য আপলোড করা,ব্যবস্থাপনা আরো কার্যকর এবং দক্ষ বৃদ্ধি.

বৈশিষ্ট্য

• অ-ইমেজের যোগাযোগ ক্যাপচারিং স্ক্যান করা বস্তুর সম্পূর্ণতা নিশ্চিত করে
• একটি বড় ক্যাপচারিং-স্কেল ইমেজ চিপগুলির বড় ভলিউমের জন্য কাজের দক্ষতা বাড়ায়
• বিভিন্ন IC চিপ এর ইমেজ স্ক্যানিং সমর্থন করে
• ম্যানুয়ালি একটি সোনার নমুনা নির্বাচন করতে সক্ষম;তারপর,সিস্টেমটি সমস্ত চিপের অবস্থান চিহ্নিত করবে এবং স্বয়ংক্রিয়ভাবে ত্রুটির তুলনা শুরু করবে
• বিজোড় সংখ্যা ব্যবহার করে স্মার্ট অনুসন্ধান করতে সক্ষম,আইটেম পরিদর্শন,অথবা পয়েন্ট রিডিং
• ত্রুটির বিভাগগুলি সেট আপ করতে এবং ত্রুটিযুক্ত আইটেম ব্যবহার করে বা তারিখ আপলোড করে একটি নির্দিষ্ট অনুসন্ধান করতে সক্ষম
• কেবলমাত্র-ডিজাইন করা পরিদর্শন সফ্টওয়্যার পিসি এবং ওয়েবে ব্যবহার করার জন্য সেট আপ করা যেতে পারে

AOI ব্রোশিওর

স্পেসিফিকেশন
স্ক্যানিং এলাকা：52 x 38 সেমি
কাজের দূরত্ব：7 সেমি
স্ক্যানিং রেজোলিউশন：20&মিউ;মি
ইমেজ সেন্সর টাইপ：রঙ রৈখিক CCD